JPH0981616A - Static timing analysis device and its analysis method - Google Patents
Static timing analysis device and its analysis methodInfo
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- JPH0981616A JPH0981616A JP7236644A JP23664495A JPH0981616A JP H0981616 A JPH0981616 A JP H0981616A JP 7236644 A JP7236644 A JP 7236644A JP 23664495 A JP23664495 A JP 23664495A JP H0981616 A JPH0981616 A JP H0981616A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】順序回路を確実に識別して組合せ回路に分割で
き、解析結果にフォールスパスが少なく、設計効率が良
好で設計期間を短縮でき、しかも、ユーザーの負担を軽
減可能とする。
【解決手段】ネットリストから展開された回路構造よ
り、クロック信号が入力される回路の出力がハイインピ
ーダンスになり得るか否かを判別し(S3)、出力がハイイ
ンピーダンスになり得る場合、この回路の出力をパス探
索の始点に設定するとともに、この回路のクロック信号
以外の入力をパス探索の終点に設定し(S4)、出力がハイ
インピーダンスになり得ない場合、この回路の出力をク
ロックノードに設定するとともに、この回路のクロック
信号以外の入力ノードをパス探索の終点に設定している
(S5)。このため、順序回路を確実に組み合わせ回路に分
割できる。
(57) [Abstract] [Problem] It is possible to reliably identify a sequential circuit and divide it into a combinational circuit, there are few false paths in the analysis result, the design efficiency is good, the design period can be shortened, and the burden on the user can be reduced. And According to a circuit structure developed from a netlist, it is determined whether an output of a circuit to which a clock signal is input can be high impedance (S3), and if the output can be high impedance, this circuit The output of is set as the start point of the path search, and the input other than the clock signal of this circuit is set as the end point of the path search (S4) .If the output cannot be high impedance, set the output of this circuit as the clock node. In addition to setting, the input node other than the clock signal of this circuit is set as the end point of the path search.
(S5). Therefore, the sequential circuit can be reliably divided into combinational circuits.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明はLSI用CAD(C
omputer Aided Design) 装置に適用され、特にトランジ
スタの接続情報から回路の最も時間が長いクリティカル
なパスを探索するスタティックタイミング解析装置及び
その解析方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a CAD (C
omputer Aided Design) device, and more particularly to a static timing analysis device and its analysis method for searching a critical path of a circuit having the longest time from connection information of a transistor.
【0002】[0002]
【従来の技術】今日、LSIに集積されるトランジスタ
の数は飛躍的に増加しており、特にマイクロプロセッサ
に代表されるシステムLSIは回路の複雑度も増してい
る。このように大規模且つ複雑な半導体装置の性能を向
上させ、設計期間を短縮するために半導体装置製造用の
CAD装置が必要不可欠になっている。このCAD装置
で使用されるツールの1つとして、トランジスタの回路
接続情報に基づいて回路のクリティカルパスを見つけ出
すスタティックタイミング解析システムが提案されてい
る。このスタティックタイミング解析システムは、テス
トベクトルと称する入力信号の組合せ列が不要であり、
実行時間が短いため近年急速に普及してきている。スタ
ティックタイミング解析システムはインバータ回路やN
AND回路等のゲートレベルで解析を行なうものや、ト
ランジスタレベルで解析を行なうものなど種々のものが
提案されており、パス探索のアルゴリズムについても、
例えば EPIC 社のPathMill等種々のものが提案されてい
る。2. Description of the Related Art Today, the number of transistors integrated in an LSI is increasing dramatically, and especially in a system LSI represented by a microprocessor, the circuit complexity is also increasing. Thus, in order to improve the performance of a large-scale and complicated semiconductor device and shorten the design period, a CAD device for manufacturing a semiconductor device is indispensable. As one of tools used in this CAD device, a static timing analysis system for finding a critical path of a circuit based on circuit connection information of a transistor has been proposed. This static timing analysis system does not require a combination sequence of input signals called a test vector,
Due to the short execution time, it has become popular rapidly in recent years. The static timing analysis system is an inverter circuit or N
Various types have been proposed, such as those that perform analysis at the gate level of AND circuits, and those that perform analysis at the transistor level.
For example, various things such as PathMill of EPIC have been proposed.
【0003】また、近年、低消費電力化の要求からマイ
クロプロセッサの設計手法としてゲーティドクロック
(GatedClock)が使われるようになってきている。この
ゲーティドクロックと言う手法は、クロック信号をNA
ND回路等によりゲーティング(gating)するものであ
り、この手法によって設計された回路のスタティックタ
イミングを解析することも要求されている。In recent years, a gated clock (Gated Clock) has been used as a designing method for a microprocessor because of a demand for low power consumption. This method called gated clock uses a clock signal with NA
Gating is performed by an ND circuit or the like, and it is also required to analyze the static timing of the circuit designed by this method.
【0004】ところで、トランジスタレベルのネットリ
ストを読み込み解析を行なうスタティックタイミング解
析システムのアルゴリズムは種々提案されている。図1
0は従来のスタティックタイミング解析方法の一例を示
すものであり、以下に処理フローの概要を説明する。先
ず、メモリからネットリストを読み込み、このネットリ
ストを展開してデータ構造を構築する(ステップS1
1)。この後、ユーザーが例えばエディタ等を用いて指
定したパス探索の始点と終点を、前記構築されたデータ
構造から認識し(ステップS12)、このパス探索の始
点と終点に基づき、同期順序回路(以下単に順序回路と
言う)を組合わせ回路に分割する(ステップS13)。
次に、この分割された全ての組合せ回路に対してスタテ
ィックタイミング解析のパス探索処理が行なわれ(ステ
ップS14,S15)、最終的に結果が出力される(ス
テップS16)。By the way, various static timing analysis system algorithms for reading and analyzing a transistor-level netlist have been proposed. FIG.
0 indicates an example of a conventional static timing analysis method, and the outline of the processing flow will be described below. First, a netlist is read from the memory and the netlist is expanded to construct a data structure (step S1).
1). Thereafter, the start point and end point of the path search specified by the user using, for example, an editor are recognized from the constructed data structure (step S12), and the synchronous sequential circuit (hereinafter The sequential circuit) is divided into combinational circuits (step S13).
Next, the path search process of the static timing analysis is performed on all the divided combinational circuits (steps S14 and S15), and the result is finally output (step S16).
【0005】図10に示す方法の場合、パス探索の始点
と終点を全てユーザーが指定しなければならない。この
ため、ユーザーの負担が大きく、設計効率が低く、設計
期間が長くなると言う問題があった。In the case of the method shown in FIG. 10, the user must specify the starting point and the ending point of the path search. Therefore, there is a problem that the burden on the user is large, the design efficiency is low, and the design period is long.
【0006】図11は、他の従来例を示すものである。
この場合、先ず、ネットリストを読み込んでデータ構造
を構築する(ステップS21)。次に、予め決められた
ルールやユーザーが定義したルールを用いてパターンマ
ッチングを行ない、トランジスタレベルで表現されてい
たネットをゲートレベルで表現したネットに変換する
(ステップS22)。この後、順序回路を組合せ回路に
分割し(ステップS23)、各組合せ回路毎にゲートレ
ベルでのパス探索を行ない、全ての組合せ回路について
パス探索が終了したら(ステップS24,S25)、結
果を出力する(ステップS26)。FIG. 11 shows another conventional example.
In this case, first, the netlist is read to construct a data structure (step S21). Next, pattern matching is performed using a predetermined rule or a rule defined by the user, and the net expressed at the transistor level is converted into a net expressed at the gate level (step S22). After that, the sequential circuit is divided into combinational circuits (step S23), a path search at the gate level is performed for each combinational circuit, and when the path search is completed for all combinational circuits (steps S24, S25), the result is output. Yes (step S26).
【0007】図11に示す従来例では、パターンマッチ
ング処理を行うため、実行時間が非常に長くなり、しか
も、ユーザーがパターンマッチングのルールを定義する
があるため、ユーザーの負担が大きいと言う問題があ
る。また、パス探索の処理はトランジスタレベルで行な
う方がゲートレベルで行なうよりタイミング精度が良
く、探索したパスが活性化されるパスであるかどうかを
確実に検証できるため、フォールスパスも少なくなる。
しかし、この例はパス探索をゲートレベルで行っている
め、タイミング精度が劣りフォールスパスを減少するこ
とが困難である。このため、設計の効率が悪くなった
り、設計期間が長くなると言う問題があった。In the conventional example shown in FIG. 11, since the pattern matching process is performed, the execution time becomes very long, and since the user defines the pattern matching rule, there is a problem that the burden on the user is heavy. is there. Further, the path search process is performed at the transistor level with better timing accuracy than at the gate level, and it is possible to reliably verify whether or not the searched path is an activated path.
However, since the path search is performed at the gate level in this example, it is difficult to reduce the false paths due to poor timing accuracy. For this reason, there have been problems that the efficiency of design becomes poor and the design period becomes long.
【0008】図12は、さらに他の従来例を示すもので
ある。この場合、先ず、ネットリストを読み込んでデー
タ構造を構築する(ステップS31)。次に、ユーザー
が定義した信号の入力端や出力端、及びクロック信号が
入力されるクロックノードを認識し(ステップS3
2)、それに基づきパス探索の始点と終点を設定する
(ステップS33)。このパス探索の始点と終点を設定
するシステムとしては、例えば前述した EPIC 社のPath
Millが使用される。このシステムの場合、上記ユーザー
が指定したクロックノードから順次各ノードを追ってい
き、インバータ回路以外のトランジスタのゲートに到達
した場合、そのノードをパス探索の終点とし、そのトラ
ンジスタのソース又はドレインをパス探索の始点として
いる。このようにして、パス探索の始点と終点を設定し
た後、各始点から終点までのパス探索を行ない、全ての
パス探索の始点からのパス探索が終了した場合(ステッ
プS34,S35)、結果を出力する(ステップS3
6)。FIG. 12 shows still another conventional example. In this case, first, the netlist is read to construct a data structure (step S31). Next, the input and output ends of the signal defined by the user and the clock node to which the clock signal is input are recognized (step S3).
2) Based on that, the start point and the end point of the path search are set (step S33). As a system for setting the start point and the end point of this path search, for example, the EPIC Path
Mill is used. In the case of this system, each node is followed sequentially from the clock node specified by the user, and when it reaches the gate of the transistor other than the inverter circuit, that node is set as the end point of the path search and the source or drain of the transistor is searched for the path. Is the starting point. In this way, after setting the start point and the end point of the path search, the path search from each start point to the end point is performed, and when the path search from all the start points of the path search is completed (steps S34, S35), the result is Output (step S3
6).
【0009】図12に示す従来例の場合、トランジスタ
レベルでパス探索を行っているため、図11に示す従来
例に比べてタイミング精度が良い。しかし、パス探索の
始点と終点を設定する際、クロック信号がローレベルの
場合パス探索を行わず、クロック信号がハイレベルの場
合のみパス探索を行うため、例えばプリチャージ回路と
ラッチ回路を識別することが困難である。また、NAN
D回路の出力をクロックと認識しないため、近年設計手
法として使われているクロックドゲートに対応できない
と言う問題がある。さらに、この従来例では、順序回路
を組合せ回路に分割していないため、探索したパスが活
性化されるパスであるかどうかを検証することができ
ず、フォールスパスが多くなり、設計効率が低下し、設
計期間が長くなると言う問題があった。In the case of the conventional example shown in FIG. 12, since the path search is performed at the transistor level, the timing accuracy is better than that of the conventional example shown in FIG. However, when setting the start point and the end point of the path search, the path search is not performed when the clock signal is at the low level, and the path search is performed only when the clock signal is at the high level. Therefore, for example, the precharge circuit and the latch circuit are identified. Is difficult. Also, NAN
Since the output of the D circuit is not recognized as a clock, there is a problem that it cannot be applied to the clocked gate used as a design method in recent years. Furthermore, in this conventional example, since the sequential circuit is not divided into combinational circuits, it is not possible to verify whether the searched path is an activated path, the number of false paths increases, and the design efficiency decreases. However, there is a problem that the design period becomes long.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】このように、従来のト
ランジスタレベルのパス解析システムは、パス探索の始
点と終点を設定する際に十分な探索がなされていないた
め、順序回路を識別することができず、解析結果にフォ
ールスパスが多いものであった。しかも、ユーザーの負
担が大きく、ゲーティドクロックの手法により設計され
た回路の解析ができないため、設計効率が低く、設計期
間の長期化を招くと言う問題を有していた。As described above, in the conventional transistor-level path analysis system, since a sufficient search is not performed when setting the start point and the end point of the path search, it is possible to identify the sequential circuit. It was not possible, and there were many false paths in the analysis results. Moreover, the burden on the user is large, and the circuit designed by the gated clock method cannot be analyzed. Therefore, there is a problem that the design efficiency is low and the design period is prolonged.
【0011】この発明は、上記課題を解決するものであ
り、その目的とするところは、順序回路を確実に識別し
て組合せ回路に分割でき、解析結果にフォールスパスが
少なく、設計効率が良好で設計期間を短縮でき、しか
も、ユーザーの負担を軽減可能なスタティックタイミン
グ解析装置及びその解析方法を提供しようとするもので
ある。The present invention is intended to solve the above problems, and an object of the present invention is to reliably identify a sequential circuit and divide it into combinational circuits, reduce false paths in analysis results, and improve design efficiency. An object of the present invention is to provide a static timing analysis apparatus and its analysis method that can shorten the design period and reduce the burden on the user.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】この発明のスタティック
タイミング解析装置は、ネットリストを記憶する記憶手
段と、前記記憶手段から読み込んだネットリストからト
ランジスタレベルの回路構造を構築する構築手段と、入
力手段から入力されたクロック信号が供給されるノード
を前記構築された回路構造から認識する認識手段と、前
記構築手段により構築された回路構造より、前記クロッ
ク信号が入力される回路の出力がハイインピーダンスに
なり得るか否かを判別する判別手段と、前記回路の出力
がハイインピーダンスになり得る場合、この回路の出力
をパス探索の始点に設定し、この回路のクロック信号以
外の入力をパス探索の終点に設定する第1の設定手段
と、前記回路の出力がハイインピーダンスになり得ない
場合、この回路の出力をクロック信号を出力するための
ノードに設定し、この回路のクロック信号以外の入力ノ
ードをパス探索の終点に設定する第2の設定手段とを具
備している。A static timing analysis apparatus according to the present invention comprises storage means for storing a netlist, construction means for constructing a transistor-level circuit structure from the netlist read from the storage means, and input means. From the recognition means for recognizing the node to which the clock signal input from is supplied from the constructed circuit structure, and the circuit structure constructed by the construction means, the output of the circuit to which the clock signal is input becomes high impedance. If the output of the circuit can be high impedance, the output of this circuit is set as the start point of the path search, and the input other than the clock signal of this circuit is set as the end point of the path search. If the output of the first setting means and the circuit set to the above cannot be high impedance, the output of this circuit Are you and a second setting means for setting a node for outputting a clock signal, setting the input nodes other than the clock signal of the circuit to the end of the path search.
【0013】この発明のスタティックタイミング解析方
法は、ネットリストからトランジスタレベルの回路構造
を構築する工程と、入力手段から入力されたクロック信
号が供給されるノードを前記構築された回路構造から認
識する工程と、前記構築手段により構築された回路構造
より、前記クロック信号が入力される回路の出力がハイ
インピーダンスになり得るか否かを判別する工程と、前
記回路の出力がハイインピーダンスになり得る場合、こ
の回路の出力をパス探索の始点に設定し、この回路のク
ロック信号以外の入力をパス探索の終点に設定する工程
と、前記回路の出力がハイインピーダンスになり得ない
場合、この回路の出力をクロック信号を出力するための
ノードに設定し、この回路のクロック信号以外の入力ノ
ードをパス探索の終点に設定する工程とを具備してい
る。According to the static timing analysis method of the present invention, a step of constructing a transistor level circuit structure from a netlist and a step of recognizing a node to which a clock signal input from an input means is supplied from the constructed circuit structure. From the circuit structure constructed by the constructing means, a step of determining whether the output of the circuit to which the clock signal is input can be high impedance; and when the output of the circuit can be high impedance, The output of this circuit is set as the start point of the path search, and the input other than the clock signal of this circuit is set as the end point of the path search, and when the output of the circuit cannot be high impedance, the output of this circuit is Set the node for outputting the clock signal, and set the input nodes other than the clock signal of this circuit to the path search. And it includes a step of setting a point.
【0014】すなわち、この発明は、ネットリストから
展開されたトランジスタレベルの回路構造より、クロッ
ク信号が入力される回路の出力がハイインピーダンスに
なり得るか否かを判別し、回路の出力がハイインピーダ
ンスになり得る場合、この回路の出力をパス探索の始点
に設定し、この回路のクロック信号以外の入力をパス探
索の終点に設定する。また、回路の出力がハイインピー
ダンスになり得ない場合、この回路の出力をクロック信
号を出力するためのノードに設定し、この回路のクロッ
ク信号以外の入力ノードをパス探索の終点に設定してい
る。このため、順序回路を確実に識別でき、組み合わせ
回路に分割できる。That is, according to the present invention, it is determined from the transistor-level circuit structure developed from the netlist whether the output of the circuit to which the clock signal is input can be high impedance, and the output of the circuit is high impedance. If this is the case, the output of this circuit is set as the start point of the path search, and the input other than the clock signal of this circuit is set as the end point of the path search. If the output of the circuit cannot be high impedance, the output of this circuit is set as the node for outputting the clock signal, and the input node other than the clock signal of this circuit is set as the end point of the path search. . Therefore, the sequential circuit can be identified with certainty and can be divided into combinational circuits.
【0015】[0015]
【発明の実施の態様】以下、この発明の実施例について
図面を参照して説明する。図2は、この発明が適用され
るスタティックタイミング解析装置を示すものである。
この装置はシステムバス11に接続されたマイクロプロ
セッサユニット(MPU)12、メモリ13、表示器1
4、キーボード15、マウス16とによって構成されて
いる。前記メモリ13には後述する処理対象の回路の接
続情報からなるトランジスタレベルのネットリストや他
のデータ、MPU12の動作を制御し後述するクロック
ノードの認識処理、順序回路の分割処理、パス探索処
理、処理結果の出力処理等を実行する各種プログラムが
記憶されている。前記表示器14はMPU12の処理内
容や処理結果、キーボード15から入力された例えばク
ロックノードの指定情報、及びマウス16によって指示
された情報等を表示する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 shows a static timing analysis device to which the present invention is applied.
This device includes a microprocessor unit (MPU) 12 connected to a system bus 11, a memory 13, a display 1
4, a keyboard 15 and a mouse 16. In the memory 13, a transistor-level netlist including connection information of a circuit to be processed, which will be described later, and other data, a clock node recognition process, a sequential circuit division process, a path search process, which will be described later by controlling the operation of the MPU 12, Various programs for executing output processing of processing results and the like are stored. The display 14 displays the processing content and processing result of the MPU 12, the designation information of, for example, a clock node input from the keyboard 15, the information designated by the mouse 16, and the like.
【0016】次に、図1を参照して、上記スタティック
タイミング解析装置による解析方法について説明する。
このスタティックタイミング解析装置では、先ず、メモ
リ13から処理対象の回路に係わるネットリストを読み
込み、処理に必要なデータ構造を構築する(ステップS
1)。この装置はトランジスタレベルで解析を行なうた
め、メモリ13から読み込んだ階層構造のデータを全て
フラットな状態のデータに展開する。次に、ユーザーが
指定したクロックノードを前記展開したデータから認識
する(ステップS2)。前記クロックノードの指定は、
例えばエディタを使用し、このエディタの画面上にキー
ボード15から所要のクロックノードを入力する。前記
クロックノードを認識した後、順序回路を組合せ回路の
みで構成される回路群に分割する。この分割処理は次の
ようにして実行される。Next, referring to FIG. 1, an analysis method by the static timing analysis device will be described.
In this static timing analysis device, first, a netlist relating to a circuit to be processed is read from the memory 13 and a data structure necessary for processing is constructed (step S).
1). Since this device analyzes at the transistor level, all the data of the hierarchical structure read from the memory 13 is expanded into flat data. Next, the clock node designated by the user is recognized from the expanded data (step S2). The designation of the clock node is
For example, using an editor, a desired clock node is input from the keyboard 15 on the screen of this editor. After recognizing the clock node, the sequential circuit is divided into a circuit group including only combinational circuits. This division processing is executed as follows.
【0017】一般に、順序回路ではクロック信号により
作り出されるハイインピーダンス状態によって情報を記
憶する。このため、ハイインピーダンス状態のノードに
より、信号の経路が分断されると考えることができる。
これに着目し、順序回路を分割処理する際、先ず、クロ
ック信号に基づきクロックノードをトレースし、クロッ
ク信号によりハイインピーダンスとなり得るノードを捜
し出す(ステップS3)。クロック信号が入力される回
路の出力ノードがハイインピーダンスになり得る場合、
その回路の出力ノードをパス探索の始点に設定し、この
回路のクロック信号以外の入力ノードを終点に設定する
(ステップS4)。このような回路は、例えばゲートに
相補なクロック信号が入力されるパストランジスタやプ
リチャージ回路、クロック形CMOS回路等が該当す
る。In general, sequential circuits store information in a high impedance state created by a clock signal. Therefore, it can be considered that the signal path is divided by the node in the high impedance state.
Paying attention to this, when dividing the sequential circuit, first, the clock node is traced based on the clock signal, and a node which can be in high impedance by the clock signal is searched for (step S3). If the output node of the circuit to which the clock signal is input can be high impedance,
The output node of the circuit is set as the start point of the path search, and the input node other than the clock signal of this circuit is set as the end point (step S4). Such a circuit corresponds to, for example, a pass transistor having a gate to which a complementary clock signal is input, a precharge circuit, a clock type CMOS circuit, or the like.
【0018】また、クロック信号が入力される回路の出
力ノードがハイインピーダンスになり得ない場合、その
回路の出力ノードをクロックノードに設定し、その回路
のクロック信号以外の入力ノードを終点に設定する(ス
テップS5)。このような回路は、例えばインバータ回
路やゲーティドクロックを構成するNAND回路やNO
R回路が該当する。When the output node of the circuit to which the clock signal is input cannot be in high impedance, the output node of the circuit is set as the clock node, and the input node other than the clock signal of the circuit is set as the end point. (Step S5). Such a circuit is, for example, an inverter circuit or a NAND circuit or a NOD forming a gated clock.
The R circuit is applicable.
【0019】上記動作を繰り返し、順序回路を組合せ回
路のみで構成される回路群に分割する。この分割処理が
終了した場合(ステップS6)、従来と同様に、各組合
せ回路に対してパス探索を行ない、全ての組合せ回路に
ついてパス探索が終了した場合(ステップS7,S
8)、処理結果を例えば表示器14に出力する(ステッ
プS9)。The above operation is repeated to divide the sequential circuit into a circuit group composed of only combinational circuits. When this division processing is completed (step S6), the path search is performed for each combinational circuit as in the conventional case, and when the path search is completed for all combinational circuits (steps S7, S).
8) Then, the processing result is output to, for example, the display 14 (step S9).
【0020】尚、実際のタイミング解析システムでは、
処理時間を考慮して、インバータ回路やパストランジス
タはパターンマッチングの手法を用いて予め認識され
る。ここで、上記ステップS3〜S6に示す順序回路の
分割処理方法について具体的に説明する。先ず、クロッ
ク信号のレベルと、このクロック信号に対応する各ノー
ドのレベルを図3に示すように定義する。In an actual timing analysis system,
In consideration of the processing time, the inverter circuit and the pass transistor are recognized in advance by using a pattern matching method. Here, the division processing method of the sequential circuits shown in steps S3 to S6 will be specifically described. First, the level of the clock signal and the level of each node corresponding to this clock signal are defined as shown in FIG.
【0021】ユーザーが指定したクロックノードにクロ
ック信号Cを設定する。このノードを基にクロック信号
の伝搬を経路をトレースする。図3に示すように、クロ
ック信号Cがインバータ回路に入力されている場合、そ
の出力ノードはクロック信号Cが反転されたCIにな
る。PチャネルMOSトランジスタ(以下、PMOSと
称す)のゲートにクロック信号Cが入ると、そのソース
又はドレインは位相が反転したクロック信号のハイレベ
ルの部分CHIとなる。NチャネルMOSトランジスタ
(以下、NMOSと称す)のゲートにクロック信号Cが
入ると、そのソース又はドレインは位相が反転したクロ
ック信号Cのローレベルの部分CLIとなる。The clock signal C is set to the clock node designated by the user. The path of the clock signal propagation is traced based on this node. As shown in FIG. 3, when the clock signal C is input to the inverter circuit, its output node becomes CI which is the inverted clock signal C. When the clock signal C enters the gate of a P-channel MOS transistor (hereinafter referred to as PMOS), its source or drain becomes the high level portion CHI of the clock signal whose phase is inverted. When the clock signal C enters the gate of an N-channel MOS transistor (hereinafter referred to as NMOS), its source or drain becomes the low-level portion CLI of the clock signal C whose phase is inverted.
【0022】また、クロック信号CIがインバータ回路
に入力された場合、その出力ノードはクロック信号CI
が反転されたCとなる。PMOSのゲートにクロック信
号CIが入ると、そのソース又はドレインは位相が反転
したクロック信号のハイレベルの部分CHとなる。NM
OSのゲートにクロック信号CIが入ると、そのソース
又はドレインは位相が反転したクロック信号のローレベ
ルの部分CLとなる。PMOS又はNMOSのソース又
はドレインにクロック信号C,CI,CH,CL,CH
I,CLIが入ると、これらの信号はそのまま他のチャ
ネルに通る。When the clock signal CI is input to the inverter circuit, its output node is the clock signal CI.
Is the inverted C. When the clock signal CI enters the gate of the PMOS, its source or drain becomes the high-level portion CH of the clock signal whose phase is inverted. NM
When the clock signal CI enters the gate of OS, its source or drain becomes the low-level portion CL of the clock signal whose phase is inverted. Clock signals C, CI, CH, CL, CH at the source or drain of the PMOS or NMOS
When I and CLI are input, these signals pass through other channels as they are.
【0023】以上の定義の元で具体的な回路について、
パス探索の始点と終点を設定する方法について説明す
る。図4はパストランジスタを示している。パストラン
ジスタ41は記憶素子としてのフリップフロップやラッ
チの構成要素として使用される。パターンマッチング処
理により、PMOSとNMOSのソース及びドレインが
共に接続されており、ゲートに相補信号が入力されてい
る場合、この回路をパストランジスタと認識する。この
パストランジスタは、図4に示すようにパストランジス
タ41の信号方向に応じてパス探索の始点STと終点T
Pが設定される。Based on the above definition, a concrete circuit
A method of setting the start point and the end point of the path search will be described. FIG. 4 shows a pass transistor. The pass transistor 41 is used as a component of a flip-flop or a latch as a memory element. When the sources and drains of the PMOS and NMOS are connected together by the pattern matching process and the complementary signal is input to the gate, this circuit is recognized as a pass transistor. This pass transistor has a start point ST and an end point T of the path search according to the signal direction of the pass transistor 41 as shown in FIG.
P is set.
【0024】図5は、クロック形CMOS回路の一例と
して、クロックトインバータ回路を示している。クロッ
クトインバータ回路51は、クロック信号がハイレベル
の時は入力信号の値に応じて出力が確定し、クロック信
号がローレベルの時は入力信号のレベルに拘らず出力が
ハイインピーダンスになる。クロック形CMOS回路の
パス探索の始点と終点はこのような特性を用いて設定さ
れる。先ず、次の条件(a)(b)が成立した場合、クロック
形CMOS回路と認識する。FIG. 5 shows a clocked inverter circuit as an example of the clock type CMOS circuit. The output of the clocked inverter circuit 51 is determined according to the value of the input signal when the clock signal is high level, and the output becomes high impedance regardless of the level of the input signal when the clock signal is low level. The starting point and the ending point of the path search of the clock type CMOS circuit are set by using such characteristics. First, when the following conditions (a) and (b) are satisfied, it is recognized as a clock type CMOS circuit.
【0025】(a) 1つのノードにCHとCLIもしくは
CIとCHIが発生する。 (b) クロック信号により電源から接地までの経路が分断
されるトランジスタで、ゲートが共通のトランジスタが
ある。(A) CH and CLI or CI and CHI are generated in one node. (b) There is a transistor with a common gate, which is a transistor whose path from the power supply to ground is divided by the clock signal.
【0026】条件(a) より、クロック信号によりノード
にハイインピーダンスが作り出されることが確認され
る。また、条件(b) は、プリチャージ回路やNAND回
路との識別のために必要である。Condition (a) confirms that the clock signal creates a high impedance at the node. The condition (b) is necessary for distinguishing it from the precharge circuit and the NAND circuit.
【0027】上記条件に基づきクロック形CMOS回路
と認識された回路に対して次の処理を行なう。 (1) 条件(a) に該当するノードをパス探索の始点SPに
設定する。The following processing is performed on the circuit recognized as the clock type CMOS circuit based on the above conditions. (1) The node corresponding to the condition (a) is set as the starting point SP of the path search.
【0028】(2) 条件(b) に該当するノードをパス探索
の終点TPに設定する。 図6は、プリチャージ回路の一例を示している。プリチ
ャージ回路61は、クロック信号がローレベルの時は入
力信号の値に拘らず出力信号はハイレベルとなり(プリ
チャージ期間)、クロック信号がハイレベルの時は入力
信号の値に応じてハイインピーダンス又はローレベルに
なる(評価期間)。プリチャージ回路の認識はこのよう
な特性を用いて行なわれる。すなわち、次の条件(a) が
成立した場合、プリチャージ回路と認識する。(2) The node satisfying the condition (b) is set as the end point TP of the path search. FIG. 6 shows an example of the precharge circuit. In the precharge circuit 61, when the clock signal is at the low level, the output signal becomes the high level regardless of the value of the input signal (precharge period), and when the clock signal is at the high level, the high impedance according to the value of the input signal. Or it becomes low level (evaluation period). The recognition of the precharge circuit is performed using such characteristics. That is, if the following condition (a) is satisfied, it is recognized as a precharge circuit.
【0029】(a) 1つのノードにCHとCLもしくはC
LIとCHIが発生し、クロック信号が入力されるトラ
ンジスタのみにより、そのノードをハイレベル又はロー
レベルとなし得る。(A) CH and CL or C in one node
The node can be set to the high level or the low level only by the transistors to which LI and CHI are generated and the clock signal is input.
【0030】この条件は、クロック信号により出力ノー
ドがハイインピーダンスとなり得る場合があると言う特
性によっている。以上の条件によりプリチャージ回路と
認識された回路に対して次の処理を行なう。This condition is based on the characteristic that the output node may have a high impedance depending on the clock signal. The following processing is performed on the circuit recognized as the precharge circuit under the above conditions.
【0031】(1) CHとCLもしくはCLIとCHIが
発生するノードをパス探索の始点SPに設定する。 (2) クロック信号以外の信号が入力されるトランジスタ
のゲートをパス探索の終点TPに設定する。(1) The node where CH and CL or CLI and CHI occur is set as the starting point SP of the path search. (2) The gate of the transistor to which a signal other than the clock signal is input is set as the end point TP of the path search.
【0032】但し、プリチャージ回路が縦列接続された
ドミノ回路を解析する場合、プリチャージ回路として認
識された回路のパス探索の始点と終点は、プリチャージ
回路の属性が付加されている。ドミノ回路のように評価
期間中にプリチャージ回路を複数個連ねて信号が通過す
る場合は、パス探索を行なう際に必ずしも1つのプリチ
ャージ回路のパス探索の終点で終らず、クロック信号の
位相を考慮しながらパス探索を先のプリチャージ回路に
進めることができるようにする。このようにすることに
より、ドミノ回路のパス探索が可能となる。However, when analyzing a domino circuit in which the precharge circuits are connected in cascade, the attributes of the precharge circuit are added to the start point and the end point of the path search of the circuit recognized as the precharge circuit. When a signal passes through a plurality of precharge circuits connected during the evaluation period like a domino circuit, the path search does not always end at the end point of the path search of one precharge circuit and the phase of the clock signal is changed. The path search can be advanced to the previous precharge circuit while considering it. By doing so, the path search of the domino circuit becomes possible.
【0033】図7は、ゲート回路の一例としてNAND
回路を示している。ゲーティドクロックとして使われる
NAND回路71は、クロック信号Cとイネーブル信号
ENが入力されている。イネーブル信号がハイレベルの
時はクロック信号を通過し、イネーブル信号がローレベ
ルの時はクロック信号を通さず、そのNAND回路の出
力信号は常にハイレベルになる。このように、ゲーティ
ドクロックはイネーブル信号のレベルに応じてクロック
信号を通したり通さなかったりする。また、ゲート回路
の出力信号はハイインピーダンスになることはない。こ
のような特性を用いてゲート回路を認識できる。すなわ
ち、次の二つの条件(a)(b)が成立した場合、ゲート回路
と認識する。FIG. 7 shows a NAND circuit as an example of a gate circuit.
The circuit is shown. The clock signal C and the enable signal EN are input to the NAND circuit 71 used as a gated clock. When the enable signal is high level, the clock signal is passed, when the enable signal is low level, the clock signal is not passed, and the output signal of the NAND circuit is always high level. Thus, the gated clock may or may not pass the clock signal depending on the level of the enable signal. Further, the output signal of the gate circuit never becomes high impedance. The gate circuit can be recognized by using such characteristics. That is, when the following two conditions (a) and (b) are satisfied, it is recognized as a gate circuit.
【0034】(a) 1つのノードにCHとCLもしくはC
HIとCLIが発生する場合、そのノードにハイレベル
又はローレベルをもたらし得る素子がクロック信号が入
力される素子以外に存在する。(A) CH and CL or C in one node
When HI and CLI are generated, there is an element other than the element to which the clock signal is input, which can bring the node to the high level or the low level.
【0035】(b) 上記ノードに接続され、クロック信号
が供給されないトランジスタのゲートが共通接続されて
いる。 条件(a) により、出力がハイインピーダンスにならない
ことが確認される。また、条件(b) は、クロック信号が
イネーブル信号により制御されることを確認するために
必要である。(B) The gates of the transistors which are connected to the node and to which the clock signal is not supplied are commonly connected. It is confirmed that the output does not become high impedance by the condition (a). Further, the condition (b) is necessary to confirm that the clock signal is controlled by the enable signal.
【0036】上記条件によりゲート回路と認識された回
路に対して次の処理を行なう。 (1) 条件(a) に該当するノードをクロックノードとして
先に進める。 (2) 条件(b) に該当するノードをパス探索の終点TPに
設定する。The circuit recognized as a gate circuit under the above conditions is subjected to the following processing. (1) The node corresponding to the condition (a) is used as a clock node and is advanced. (2) The node corresponding to the condition (b) is set as the end point TP of the path search.
【0037】ゲーティドクロックのイネーブル信号はク
ロック信号とのタイミングで確定する時間が決められて
おり、イネーブル信号を作り出す組合せ回路のパス解析
を行なう必要がある。The enable signal of the gated clock has a fixed time determined with the timing of the clock signal, and it is necessary to analyze the path of the combinational circuit that produces the enable signal.
【0038】図8は、インバータ回路を示している。パ
ターンマッチングによりインバータ回路81を認識し、
クロック信号が入力されていた場合、その出力ノードは
入力されたクロック信号の反転信号であり、クロックノ
ードに設定される。FIG. 8 shows an inverter circuit. Recognize the inverter circuit 81 by pattern matching,
When the clock signal is input, its output node is an inverted signal of the input clock signal and is set to the clock node.
【0039】上記のように、入力信号と出力信号とパス
探索の始点と終点が設定された全体回路について、入力
信号とパス探索の始点に関連のあるノードを全て含むよ
うに組合せ回路がまとめられ、順序回路が複数の組合せ
回路に分割される。As described above, with respect to the entire circuit in which the input signal, the output signal, the start point and the end point of the path search are set, the combination circuit is arranged so as to include all the nodes related to the input signal and the start point of the path search. , The sequential circuit is divided into a plurality of combinational circuits.
【0040】図9は、以上の方法によりテスト回路を分
割処理した場合について示している。図9において、こ
のテスト回路は破線で示した4つの組合せ回路に分割さ
れ、この4つの組合せ回路毎にパス探索が行なわれ、結
果が出力される。FIG. 9 shows a case where the test circuit is divided by the above method. In FIG. 9, this test circuit is divided into four combinational circuits indicated by broken lines, a path search is performed for each of these four combinational circuits, and the result is output.
【0041】上記実施例によれば、ネットリストから展
開された回路構造より、クロック信号が入力される回路
の出力がハイインピーダンスになり得るか否かを判別
し、回路の出力がハイインピーダンスになり得る場合、
この回路の出力をパス探索の始点に設定するとともに、
この回路のクロック信号以外の入力をパス探索の終点に
設定し、回路の出力がハイインピーダンスになり得ない
場合、この回路の出力をクロックノードに設定するとと
もに、この回路のクロック信号以外の入力ノードをパス
探索の終点に設定している。このため、順序回路を確実
に組み合わせ回路に分割処理できる。According to the above embodiment, it is judged from the circuit structure developed from the netlist whether or not the output of the circuit to which the clock signal is input can have high impedance, and the output of the circuit becomes high impedance. If you get
While setting the output of this circuit as the starting point of the path search,
If an input other than the clock signal of this circuit is set as the end point of the path search and the output of the circuit cannot be high impedance, set the output of this circuit as the clock node and the input node other than the clock signal of this circuit. Is set as the end point of the path search. Therefore, the sequential circuit can be reliably divided into combinational circuits.
【0042】さらに、この分割処理はクロック信号がロ
ーレベルの場合についてもパス探索を行っているため、
プリチャージ回路とラッチ回路を識別することができる
とともに、NAND回路の出力をクロックノードと認識
できる。したがって、順序回路を組合せ回路に確実に分
割でき、クロックドゲートに対応できるとともに、例え
ばプリチャージ回路が直列接続されたドミノ回路やゲー
ティドクロック回路を用いた回路も容易に解析できる。
しかも、この分割処理はトランジスタレベルで行ってい
るため、タイミング精度が良好であり、解析結果のフォ
ールスパスを減少できる利点を有している。Further, in this division processing, the path search is performed even when the clock signal is at the low level.
The precharge circuit and the latch circuit can be identified, and the output of the NAND circuit can be recognized as a clock node. Therefore, the sequential circuit can be surely divided into combinational circuits, and it is possible to deal with clocked gates. For example, a circuit using a domino circuit or a gated clock circuit in which precharge circuits are connected in series can be easily analyzed.
Moreover, since this division processing is performed at the transistor level, it has the advantages of good timing accuracy and reduced false paths in the analysis results.
【0043】また、ユーザーは従来のように、パス探索
の始点と終点を全て入力したり、パターンマッチングの
ルールを定義する必要がなく、クロック信号が供給され
るノードを指定するだけでよい。このため、ユーザーの
負担を大幅に軽減することができる。さらに、ユーザー
の負担が少なく、分割処理も高速化が可能であるため、
設計の効率が良く、設計期間を短縮することができる。Further, the user does not need to input all the start points and end points of the path search or define the pattern matching rule as in the conventional case, and only needs to specify the node to which the clock signal is supplied. Therefore, the burden on the user can be significantly reduced. Furthermore, since the burden on the user is small and the division processing can be speeded up,
Design efficiency is good and the design period can be shortened.
【0044】[0044]
【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
順序回路を確実に識別して組合せ回路に分割でき、解析
結果にフォールスパスが少なく、設計効率が良好で設計
期間を短縮でき、しかも、ユーザーの負担を軽減可能な
スタティックタイミング解析装置及びその解析方法を提
供できる。As described above in detail, according to the present invention,
A static timing analysis device and its analysis method that can reliably identify sequential circuits and divide them into combinational circuits, have few false paths in analysis results, have good design efficiency, can shorten the design period, and can reduce the burden on the user. Can be provided.
【図1】図2の動作を説明するために示す図。FIG. 1 is a diagram for explaining the operation of FIG.
【図2】この発明の一実施例を示す構成図。FIG. 2 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention.
【図3】順序回路の分割処理方法について具体的に説明
する図。FIG. 3 is a diagram specifically illustrating a division processing method of a sequential circuit.
【図4】パストランジスタのパス探索の始点と終点を設
定する方法について説明する回路図。FIG. 4 is a circuit diagram illustrating a method of setting a start point and an end point of a path search of a pass transistor.
【図5】クロック形CMOS回路のパス探索の始点と終
点を設定する方法について説明する回路図。FIG. 5 is a circuit diagram illustrating a method of setting a start point and an end point of a path search of a clock type CMOS circuit.
【図6】プリチャージ回路のパス探索の始点と終点を設
定する方法について説明する回路図。FIG. 6 is a circuit diagram illustrating a method of setting a start point and an end point of a path search of a precharge circuit.
【図7】ゲート回路のパス探索の始点と終点を設定する
方法について説明する回路図。FIG. 7 is a circuit diagram illustrating a method of setting a start point and an end point of a path search of a gate circuit.
【図8】インバータ回路のパス探索の始点と終点を設定
する方法について説明する回路図。FIG. 8 is a circuit diagram illustrating a method of setting a start point and an end point of a path search of an inverter circuit.
【図9】テスト回路を分割処理した場合を示す回路図。FIG. 9 is a circuit diagram showing a case where a test circuit is divided.
【図10】従来のスタティックタイミング解析方法を示
すフローチャート図。FIG. 10 is a flowchart showing a conventional static timing analysis method.
【図11】従来の他のスタティックタイミング解析方法
を示すフローチャート図。FIG. 11 is a flowchart showing another conventional static timing analysis method.
【図12】従来の他のスタティックタイミング解析方法
を示すフローチャート図。FIG. 12 is a flowchart showing another conventional static timing analysis method.
12…マイクロプロセッサユニット(MPU)、13…
メモリ、14…表示器、15…キーボード。12 ... Microprocessor unit (MPU), 13 ...
Memory, 14 ... Display, 15 ... Keyboard.
Claims (2)
スタレベルの回路構造を構築する構築手段と、 入力手段から入力されたクロック信号が供給されるノー
ドを前記構築された回路構造から認識する認識手段と、 前記構築手段により構築された回路構造より、前記クロ
ック信号が入力される回路の出力がハイインピーダンス
になり得るか否かを判別する判別手段と、 前記回路の出力がハイインピーダンスになり得る場合、
この回路の出力をパス探索の始点に設定し、この回路の
クロック信号以外の入力をパス探索の終点に設定する第
1の設定手段と、 前記回路の出力がハイインピーダンスになり得ない場
合、この回路の出力をクロック信号を出力するためのノ
ードに設定し、この回路のクロック信号以外の入力ノー
ドをパス探索の終点に設定する第2の設定手段とを具備
することを特徴とするスタティックタイミング解析装
置。1. A storage means for storing a netlist, a construction means for constructing a transistor-level circuit structure from the netlist read from the storage means, and a node to which a clock signal input from an input means is supplied. A recognition means for recognizing from the constructed circuit structure; a discrimination means for discriminating whether or not the output of the circuit to which the clock signal is inputted can be high impedance from the circuit structure constructed by the construction means; If the output of the circuit can be high impedance,
First setting means for setting the output of this circuit as the start point of the path search and setting the inputs other than the clock signal of this circuit as the end point of the path search, and when the output of the circuit cannot be high impedance, A static timing analysis, comprising: a second setting means for setting an output of the circuit to a node for outputting a clock signal and setting an input node other than the clock signal of the circuit to an end point of the path search. apparatus.
回路構造を構築する工程と、 入力手段から入力されたクロック信号が供給されるノー
ドを前記構築された回路構造から認識する工程と、 前記構築手段により構築された回路構造より、前記クロ
ック信号が入力される回路の出力がハイインピーダンス
になり得るか否かを判別する工程と、 前記回路の出力がハイインピーダンスになり得る場合、
この回路の出力をパス探索の始点に設定し、この回路の
クロック信号以外の入力をパス探索の終点に設定する工
程と、 前記回路の出力がハイインピーダンスになり得ない場
合、この回路の出力をクロック信号を出力するためのノ
ードに設定し、この回路のクロック信号以外の入力ノー
ドをパス探索の終点に設定する工程とを具備することを
特徴とするスタティックタイミング解析方法。2. A step of constructing a transistor-level circuit structure from a netlist, a step of recognizing a node to which a clock signal input from an input means is supplied from the constructed circuit structure, and a step of constructing by the constructing means. From the circuit structure described above, a step of determining whether the output of the circuit to which the clock signal is input can be high impedance, and if the output of the circuit can be high impedance,
Setting the output of this circuit as the start point of the path search and setting the input other than the clock signal of this circuit as the end point of the path search, and if the output of the circuit cannot be high impedance, then the output of this circuit is And a step of setting a node for outputting a clock signal and setting an input node other than the clock signal of this circuit as an end point of the path search.
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