KR880001171B1 - Addressing device with sequential word order - Google Patents
Addressing device with sequential word order Download PDFInfo
- Publication number
- KR880001171B1 KR880001171B1 KR8204397A KR820004397A KR880001171B1 KR 880001171 B1 KR880001171 B1 KR 880001171B1 KR 8204397 A KR8204397 A KR 8204397A KR 820004397 A KR820004397 A KR 820004397A KR 880001171 B1 KR880001171 B1 KR 880001171B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- address
- memory
- row
- bus
- bit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/04—Addressing variable-length words or parts of words
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F13/00—Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/04—Arrangements for selecting an address in a digital store using a sequential addressing device, e.g. shift register, counter
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E50/00—Technologies for the production of fuel of non-fossil origin
- Y02E50/10—Biofuels, e.g. bio-diesel
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Memory System (AREA)
- Bus Control (AREA)
Abstract
내용 없음.No content.
Description
제1도는 본 발명의 장치를 포함하는 메모리 시스템을 포함한 시스템을 다이어그램 형태로 도시한 도면.1 is a diagrammatic representation of a system including a memory system including an apparatus of the present invention.
제2도는 제1도의 메모리 서브시스템에 접촉하는 시스템버스(10)의 라인들을 상세히 도시한 도면.FIG. 2 shows in detail the lines of the
제3도는 제1도의 메모리 서브시스템(20-1)을 블럭 다이어그램 형태로 도시한 도면.3 is a block diagram of the memory subsystem 20-1 of FIG.
제4a도 내지 제4c도는 제3도에 도시한 메모리 서브시스템(20-1)의 다른 부분들을 보다 더 상세히 도시한 도면.4A-4C illustrate in greater detail other portions of the memory subsystem 20-1 shown in FIG.
제5도는 본 발명의 동작을 설명하는데 사용되는 타이밍도.5 is a timing diagram used to describe the operation of the present invention.
제6a도는 제1도의 메모리 서브시스템에 인가되는 어드레스 포오맷을 예시한 도면.FIG. 6A illustrates an address format applied to the memory subsystem of FIG.
제6b도는 제1도에 도시한 메모리 모듈의 구성을 예시한 도면.FIG. 6B is a diagram illustrating a configuration of the memory module shown in FIG.
제6c도는 제1도에 도시한 메모리 모듈들의 구성을 예시한 도면.FIG. 6C is a diagram illustrating a configuration of the memory modules shown in FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10 : 다선 버스 20-1~20-n : 메모리 서브시스템10: Multi-wire bus 20-1 ~ 20-n: Memory subsystem
40 : 중앙처리장치(CPU) 200-1 : 제어기40: central processing unit (CPU) 200-1: controller
204 : 타이밍부 205 : 리프레시 제어부204: Timing unit 205: Refresh control unit
206 : 데이타 제어부 206-8, 206-10 : 데이타 레지스터206: data control unit 206-8, 206-10: data register
206-16, 206-18 : 멀티플렉서회로 207 : 어드레스부206-16, 206-18: multiplexer circuit 207: address section
208 : 리이드/라이트 제어부 210 : 메모리부208: lead / light control unit 210: memory unit
210-2, 210-4 : 256K 워어드 메모리 모듈210-2, 210-4: 256K Wared Memory Module
210-20 : 짝수 메모리 유니트 또는 짝수 스택 유니트210-20: Even Memory Unit or Even Stack Unit
210-40 : 홀수 메모리 유니트 또는 홀수 스택 유니트210-40: Odd Memory Unit or Odd Stack Unit
210-22~210-26, 210-42~210-46 : 어드레스 버퍼회로210-22 to 210-26, 210-42 to 210-46: address buffer circuit
211 : 버스 제어부 212 : 메모리 초기화부211: bus control unit 212: memory initialization unit
213 : 버스 드라이버/수신기회로부 215 : 큐(queue)제어부213: bus driver / receiver circuit section 215: queue control section
본 발명은 반도체 메모리 시스템에 관한 것으로서, 특히 그에 대한 어드레스 지정장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
다수의 메모리 모듈을 사용하여 메모리 시스템을 구성하는 것은 이미 잘 알려져 있다. 종래 기술의 시스템에 있어서는, 메모리 모듈들이 함께 쌍을 이루도록 구성되게 하여 2중 워어드 페치 액세스(double word fetch access)능력을 제공하고 있다.It is well known to construct a memory system using multiple memory modules. In prior art systems, memory modules are configured to be paired together to provide double word fetch access capability.
여기서 사용된 "2중 워어드 페치 액세스"란 용어는 1사이클 동작 동안 메모리 시스템으로부터 한번에 한쌍의 워어드를 액세스할 수 있는 능력을 가리킨다. 이러한 유형이 시스템은 Jhon L. Curley, Robert B. Johnson, Richard A.Lemay 및 Chester M.Nibby, Jr., 에 의해 발명되어, 1980년 11월 25일자로 특허 된 다음, 본 양수인에게 양도된 "System Providing Multiple Fetch Bus Cycle Operation"이란 제하의 미합중국 특허 제4,236,203호에 기재되어 있다.The term "double word fetch access" as used herein refers to the ability to access a pair of words at a time from the memory system during one cycle of operation. This type of system was invented by Jhon L. Curley, Robert B. Johnson, Richard A. Lemay and Chester M.Nibby, Jr., patented November 25, 1980 and then assigned to the assignee. System Providing Multiple Fetch Bus Cycle Operation "is described in US Pat. No. 4,236,203.
상기 종래 기술의 시스템에서는 메모리 시스템을 비동기적으로 동작되는 단일 워어드폭 버스에 접속되게 한다. 이러한 시스템에서는, 다수 워어드에 대한 요구가 단일 버스 사이클로 이루어지고 그 요구된 정보 워어드는 일련의 응답 사이클을 통해 버스로 전송된다. 이와 같은 시스템은 시스템 전반에 대한 능력을 개선시키지만, 단일 버스 사이클을 통해 동시에 2종 워어드 액세스를 제공할 수 있게 되어 있다.The prior art system allows the memory system to be connected to a single word bus that operates asynchronously. In such a system, a request for multiple words is made in a single bus cycle and the required information word is sent to the bus through a series of response cycles. Such a system improves system-wide capabilities, but is able to provide two worded accesses simultaneously through a single bus cycle.
이와 같이 쌍을 이루는 메모리 모듈 시스템에 있어서는 쌍메모리 모듈을 액세스할 수 있도록 짝수 및 홀수 어드레스를 발생시키는 것이 필요하다. 이러한 어드레스 발생을 위한 시스템은 Robert B.Johnson 및 Chester M.Nibby, Jr., 에 의해 발명되어, 1980년 1월 22일자로 특허된 다음 본 양수인에게 양도된 "A Dynamic Memory System Which Includes Apparatus for Performing Refersh Operations in Parallel with Normal Memory Operations"란 제하의 미합중국 특허 제 4,185,323호에 기재되어 있다.In such a paired memory module system, it is necessary to generate even and odd addresses so that the paired memory modules can be accessed. The system for generating such addresses was invented by Robert B. Johnson and Chester M.Nibby, Jr., and entitled "A Dynamic Memory System Which Includes Apparatus for Performing, patented on January 22, 1980, and then assigned to the assignee. Refersh Operations in Parallel with Normal Memory Operations "is described in US Pat. No. 4,185,323.
상기 시스템에 있어서, 메모리 요구가 제공되는 어드레스에 대한 하위비트는 액세스되고 있는 기억위치를 특정하는 반면, 상위 비트는 RAM칩의 행이 선택되고 있음을 특정한다. 액세스된 쌍의 2워어드를 추출해 내기 위해서는, 메모리 요구 어드레스를 1만큼 증분시킨후 그 증분된 어드레스를 해독하는 것이 필요하다. 이것은 메모리 어드레스장치로 하여금 카운터로서도 제공되는 1차 어드레스 레지스터와 이 1차 어드레스 레지스터로부터 수신된 초기 어드레스 및 증분된 어드레스를 기억시키기 위한 2개의 병렬 2차 어드레스 레지스터를 포함하게 하는데 필요하다. 이러한 장치는 어떤 워어드 경계상에서 개시하는 메모리요구의 처리를 가능케 한다(즉, 짝수 또는 홀수 워어드를 호출할 수 있게 한다). 상기 장치는 어드레스 레지스터의 기억량과 더블어, 어느 한쪽 모듈로서 개시하는 쌍메모리 모듈을 액세스하기 위해 짝수 및 홀수 어드레스를 발생시키는데 있어서의 지연을 증가시킨다.In the above system, the lower bit for the address where the memory request is provided specifies the storage location being accessed, while the upper bit specifies that the row of the RAM chip is being selected. To extract the two words of the accessed pair, it is necessary to increment the memory request address by one and then decode the incremented address. This is necessary for the memory addressing device to include a primary address register, which also serves as a counter, and two parallel secondary address registers for storing the initial address and the incremented address received from the primary address register. Such a device allows handling of memory requests that originate on certain word boundaries (ie, allow even or odd word calls). The device doubles the amount of storage in the address register and increases the delay in generating even and odd addresses to access the paired memory module starting as either module.
독립적으로 어드레스 지정 가능한 한쌍의 메모리 모듈과 조합하여 사용되는 다른 어드레스 지정장치는 Robert B.Johnson, Chester M.Nibby, Jr. 및 Dana W.Moore에 의해 발명되어, 1980년 1월 8일자로 출원된후, 본 양수인에게 양도된 "Sequential Word Aligned Address Apparatus"란 제하의 공동계류 특허 출원 제 110,521호에 기재되어 있다. 어드레스들을 발생시킴에 있어서는 지연을 감소시키기 위하여, 상기 장치는 RAM칩의 어느 행이 액세스될 제1워어드 위치를 포함하는지를 특정하도록 메모리 요구 어드레스의 최하위 또는 하위 어드레스 비트를 활용한다. 이러한 어드레스 비트에 응답하여, 디코딩회로가 한쌍의 모듈로부터 한쌍의 워어드를 동시에 선택하기 위해 한쌍의 출력신호를 발생한다. 상기 어드레스회로는 메모리 요구 어드레스의 행 및 열 어드레스부분을 기억시키기 위해 3상태로 동작되는 한쌍의 어드레스 레지스터와 다수 비트 가산기회로를 포함한다. 최하위 어드레스 비트가 부경계 조건을 나타내는 값을 가질때마다, 상기 가산기회로는 소망된 쌍의 워어드위치 액세스를 가능케하는 하위행 어드레스 비트를 1만큼 증분시킨다.Other addressing devices used in combination with a pair of independently addressable memory modules are Robert B. Johnson, Chester M. Nibby, Jr. And "Sequential Word Aligned Address Apparatus," which was invented by Dana W. Moore and filed on January 8, 1980, and assigned to the assignee, is described in co-pending patent application 110,521. In order to reduce the delay in generating the addresses, the apparatus utilizes the least significant or lower address bits of the memory request address to specify which row of the RAM chip contains the first word location to be accessed. In response to these address bits, the decoding circuit generates a pair of output signals to simultaneously select a pair of words from a pair of modules. The address circuit includes a pair of address registers and a multi-bit adder circuit operated in three states for storing row and column address portions of a memory request address. Each time the least significant address bit has a value indicating a sub-boundary condition, the adder circuit increments the lower row address bits by one to enable the desired pair of word position accesses.
상술한 증분동작으로서 메로리의 전체 성능을 지연시킬 수 있는데, 그 이유는 각각의 어드레스 지정동작에 할당되는 시간이 어드레스 증분을 위해 요구되는 시간을 포함하여야 하기 때문이다.The incremental operation described above can delay the overall performance of the memory, since the time allocated to each addressing operation must include the time required for the address increment.
상기한 어드레스 지정장치내의 디코딩회로는 부경계 조건이 아닌 동안 어드레스를 증분시킬 필요성을 제거함으로써 메모리 성능을 증가시키는데, 이러한 잇점은 다른 메모리조직에 기인하여 부경계 조건이 자주 발생하는 상황에서는 줄어든다.The decoding circuit in the above addressing device increases memory performance by eliminating the need to increment the address while not in a sub-boundary condition, which is reduced in situations where sub-boundary conditions frequently occur due to different memory organization.
따라서, 본 발명의 목적은 한쌍의 메모리 모듈로부터 한쌍의 워어드를 판독해내기 위한 어드레스들을 발생시키는 메모리 시스템을 제공하는 것이다.It is therefore an object of the present invention to provide a memory system that generates addresses for reading a pair of words from a pair of memory modules.
본 발명의 다른 목적은 다수 워어드 버스에 결합된 메모리 시스템으로부터 적어도 한쌍의 워어드를 판독해내기 위한 어드레스들을 제공하기 위해 회로망 및 지연을 최소화시키는 방법 및 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a method and apparatus for minimizing circuitry and delay to provide addresses for reading at least a pair of words from a memory system coupled to multiple word buses.
상술한 목적 및 기타 목적들은 동작상 별개의 데이타 레지스터회로들을 통해 다수 워어드 버스에 결합되어 독립적으로 어드레스 지정 가능한 적어도 한쌍의 메모리 모듈 유니트를 포함하는 본 발명의 메모리 서브 시스템의 양호한 실시예로부터 달성된다. 이 각각의 메모리 모듈 유니트는 다수행의 램덤 액세스 메모리(RAM)칩을 포함한다.The above and other objects are attained from the preferred embodiment of the memory subsystem of the present invention comprising at least one pair of memory module units that are coupled to multiple word buses through separate data register circuits in operation and are independently addressable. Each of these memory module units includes multiple rows of random access memory (RAM) chips.
본 발명에 의하여, 메모리 서브 시스템에 의해 수신된 각각의 메모리 요구와 결합된 어드레스는 최상위 또는 상위 어드레스 비트로 하여금 RAM 칩의 어느 행이 액세스될 제1워어드를 포함하는지를 특정하도록 부호화된다. 다음의 보다 낮은 순위 또는 하위 어드레스 비트들은 액세스될 제1워어드 위치의 RAM칩 어드레스들을 특정한다.By means of the present invention, the address associated with each memory request received by the memory subsystem is encoded such that the most significant or upper address bits specify which row of the RAM chip contains the first word to be accessed. The next lower order or lower address bits specify the RAM chip addresses of the first word location to be accessed.
메모리 서브 시스템은 공통 어드레스 지정회로 및 공통 타이밍회로를 포함한다. 상기 어드레스 회로는 버스로부터 수신된 메모리 요구 어드레스의 칩 어드레스에 대한 행 및 열 어드레스부분을 기억시키기 위해 3상태로 동작되는 한쌍의 어드레스 레지스터와 다수 비트 가산기를 포함하고 있다. 상기 두 레지스터의 출력단자들은 어드레스를 다중화시키기 위해 다른 메모리 모듈 유니트에 인가된 어드레스 라인들과 공통으로 접속된다. 아울러, 짝수 메모리 어드레스들이 할당된 열 어드레스 부분 유니트를 기억하고 있는 레지스터에 인가된 하위 어드레스 라인들은 상기 가산회로와 병렬로 인가된다. 상기 가산회로의 출력은 또한 상기 행 어드레스부분을 기억하고 있는 레지스터에도 인가된 하위 행 어드레스 비트를 수신하도록 접속되는 멀티 플렉서회로에 인가된다. 이러한 멀티 플렉서회로의 출력은 짝수 어드레스들이 할당된 메모리 모듈 유니트에 대한 하위 어드레스 비트 소오스로서 접촉된다.The memory subsystem includes a common addressing circuit and a common timing circuit. The address circuit includes a pair of address registers and a multi-bit adder operated in three states to store row and column address portions for the chip address of the memory request address received from the bus. The output terminals of the two registers are commonly connected with address lines applied to other memory module units to multiplex the address. In addition, the lower address lines applied to the register storing the column address partial unit to which even memory addresses are allocated are applied in parallel with the addition circuit. The output of the addition circuit is also applied to the multiplexer circuit which is connected to receive the lower row address bits applied to the register which stores the row address portion. The output of this multiplexer circuit is contacted as the lower address bit source for the memory module unit to which even addresses are assigned.
메모리 요구 응답하며, 상기 타이밍회로는 다수의 시퀸스 워어드 위치를 액세싱하기 위하여 행 및 열 어드레스들을 메모리 모듈 유니트의 어드레스 라인들에 연속적으로 인가하도록 어드레스 레지스터 및 멀티 플렉서회로를 조절하는 일련의 타이밍 신호를 발생시킨다. 즉, 하위의 행 어드레스 비트들이 멀티 플레서회로를 통해 짝수 메모리 모듈로 전송된다. 이러한 이송과는 병렬로, 변경되거나 혹은 변경되지 않은 하위 열 어드레스 비트가 가산회로를 통해 통과되고 그 후 멀티 플렉서회로 통해 짝수 메모리 모듈로 전송됨과 동시에, 열 어드레스 부분의 어드레스 비트가 메모리 모듈 유니트의 어드레스 라인들에 인가된다.In response to a memory request, the timing circuit adjusts an address register and a multiplexer circuit to successively apply row and column addresses to address lines of a memory module unit to access multiple sequence warped positions. Generate a signal. That is, the lower row address bits are transmitted to the even memory module through the multiplexer circuit. In parallel with this transfer, the altered or unchanged lower column address bits are passed through the adder circuit and then transferred to the even memory module through the multiplexer circuit, while the address bits of the column address portion of the memory module unit Is applied to the address lines.
메모리 판독 요구의 경우에 있어서, 다수의 워어드는 출력 멀티 플렉서회로를 통해 다수 워어드 버스로 된 워어드 라인들에 접속된 데이타 레지스터 회로로 동시에 판독된다. 상기 멀티 플렉서회로들은 최하위 어드레스 비트의 상태에 따라 단일 버스 사이클 동작 동안 다수의 워어드를 선택적으로 일단의 워어드 라인에 인가한다.In the case of a memory read request, a number of words are simultaneously read through an output multiplexer circuit into a data register circuit connected to word lines of a number of word buses. The multiplexer circuits selectively apply multiple words to a group of word lines during a single bus cycle operation depending on the state of the least significant address bit.
즉, 짝수 또는 홀수 워어드는 최하위 어드레스 비트 값의 함수로서 각각의 워어드 라인에 인가될 수 있다. 마찬가지로, 데이타 레지스터 회로 및 다수 워어드 버스에 접속된 멀티 플렉서회로는 버스로부터 수신된 워어드들을 라이트 동작 동안 데이타 레지스터회로를 거쳐 정확한 메모리 모듈 유니트내에 라이트되게 한다.That is, an even or odd word may be applied to each word line as a function of the lowest address bit value. Similarly, the data register circuit and the multiplexer circuit connected to the multiple word buses allow the words received from the bus to be written into the correct memory module unit via the data register circuit during the write operation.
행 어드레스 부분의 전송 동안, 최하위 어드레스 비트가 부경계 어드레스 상태를 가리키는 소정의 값을 가질때마다, 상기 가산기회로는 메모리 모듈유니트내에서의 소망하는 순차쌍의 워어드 위치를 액세스시키는 하위 열 어드레스 비트를 1만큼 증분시킨다.During the transfer of the row address portion, whenever the least significant address bit has a predetermined value indicating the sub-boundary address state, the adder circuitry accesses the lower column address bits that access the desired sequential pair of word positions in the memory module unit. Increment by 1
그러나, 메모리 요구가 실제 경계 어드레스 조건을 나타내는 어드레스를 특정하때마다, 그 경계회로는 어드레스 조건을 검출하자마자 타이밍회로로 하여금 다수의 제1워어드 위치를 액세싱하기 위한 타이밍신호만을 발생되게 한다.However, each time a memory request specifies an address representing an actual boundary address condition, the boundary circuit causes the timing circuit to generate only a timing signal for accessing a plurality of first word positions as soon as the address condition is detected.
상술한 장치는 최소한도로 지연되는 단일 버스 사이클 동작 동안 다수의 메모리 모듈 유니트에서 다수의 순차적인 워어드 위치를 동시에 액세싱하는데 필요한 어드레스들을 제공할 수 있다.The above-described apparatus can provide the addresses necessary to simultaneously access multiple sequential word positions in multiple memory module units during a minimally delayed single bus cycle operation.
이것은 시스템 성능에 나쁜 영향을 주지 않고 달성된다. 즉, 정상적으로 메모리 모듈 유니트에 먼저 전송되는 행 어드레스 부분을 증분시키는 대신, 본 발명의 어드레스 지정장치는 행 어드레스부분을 메모리 모듈 유니트로 전송시키는 동안 열 어드레스 부분을 증분시키거나 변경시키도록 동작한다. 따라서, 열 어드레스부분은 증분 동작의 결과가 이미 종료되었기 때문에 어떤 지연없이도 전송될 수 있다.This is accomplished without adversely affecting system performance. In other words, instead of incrementing the row address portion normally transmitted first to the memory module unit, the addressing device of the present invention operates to increment or change the column address portion while transferring the row address portion to the memory module unit. Thus, the column address portion can be transmitted without any delay since the result of the incremental operation has already been completed.
바람직한 실시예에 있어서는, 3비트 가산회로가 매 다른 워어드마다 칩 어드레스를 1만큼 증분시킨다(예컨데, 최하위 비트가 값"1"을 갖는 경우). 따라서, 경계조건은 워어드 15 또는 모듈로 16을 기초로 하여 발생한다. 가산기 크기를 증대시킴으로써, 상기 경계조건은 더욱 확장될 수 있다.In a preferred embodiment, the 3-bit adder increments the chip address by 1 for every different word (eg, when the least significant bit has the value "1"). Thus, boundary conditions occur on the basis of
본 발명의 추가의 목적 및 잇점과 함께 그 구성 및 동작방법에 대한 특성이라 할 수 있는 신규한 특징은 첨부한 도면과 관련한 다음의 상세한 설명으로부터 보다 잘 이해될 수 있을 것이다. 그러나, 유의할 것은 첨부한 각각의 도면은 예시 및 설명의 목적을 위해 주어진 것이뿐, 본 발명을 제한하도록 해석되어서는 안된다는 점이다.Further features and novel features of the construction and method of operation together with the additional objects and advantages of the present invention will be better understood from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings. It should be noted, however, that the accompanying drawings, which are given for purposes of illustration and description, are not to be construed as limiting the invention.
제1도의 시스템에 대한 일반적인 설명General description of the system of FIG.
제1도의 본 발명의 장치를 포함하는 데이타처리 시스템을 예시한 것이다. 제1도의 시스템은 n개의 메모리 서브 시스템(20-1) 내지 (20-n) 및 중앙처리장치(CPU) (40)에 결합된 다선 버스(10)를 포함하고 있다. 제1도의 시스템에서는 단지 메모리 제어기들만이 도시되어 있으마, 통상의 1976년 12월 28일자로 특허된 미합중극 특허 제 4,000,485호에 기재된 것과 같은 기타의 장치도 포함한다.1 illustrates a data processing system including the apparatus of the present invention. The system of FIG. 1 includes a
상기 메모리 서브 시스템은 각각 A 내지 D로 표시된 4개의 메모리 모듈 유니트의 어드레스를 지정하는 메모리 제어기(즉, 200-1 내지 200-n)를 포함한다.The memory subsystem includes memory controllers (ie, 200-1 to 200-n) that address the four memory module units, labeled A through D, respectively.
중앙처리장치(40)는 본 발명의 목적을 위해 통상의 셀계도로 고려될 수 있는 마이크로프로그램된 처리장치이다. 이에 대한 좀 더 상세한 설명은 상술된 공동계류 특허 출원과, 아울러 Richard A.Lemay 및 John L.Curley에 의해 발명되어, 1978년 1월 5일자로 출원된후, 본 양수인에게 양도된 "System Providing Multiple Outstanding Information Requests" 란 제하의 미합중국 특허 출원 제 867,266호를 참조할 수 있다. 또한, George J.Barlow 씨 등에 의한 "Interface for Controlling Information Transfers between Main Data Processing Systems Units and a Central Subsystem"이란 제하의 관련 특허 출원도 참조할 수 있다.Central processing unit 40 is a microprogrammed processing unit that may be considered a conventional cell lineage for the purposes of the present invention. A more detailed description of this can be found in the co-pending patent application described above, as well as in the invention by Richard A. Lemay and John L. Curley, filed on January 5, 1978, and assigned to the assignee, "System Providing Multiple." See US Patent Application No. 867,266, entitled "Outstanding Information Requests." See also related patent application entitled "Interface for Controlling Information Transfers between Main Data Processing Systems Units and a Central Subsystem" by George J. Barlow et al.
중앙처리장치(40)는 물론 각각의 제어기 및 메로리 서브 시스템들은 미합중국 특허 제 4,000,485호에 설명된 바와 같은 소정의 방식으로 버스(10)를 통해 통신한다. 간략히 말해서, 통신하기를 원하는 유니트가 버스 사이클을 요구하여 버스 사이클이 허용된 경우, 상기 유니트는 "마스터"상태로 되어 시스템내의 어떤 다른 유니트를 "슬레이브"로서 어드레스 지정할 수 있게 된다. 응답(예를 들어, 메모리 판독동작)을 필요로 하는 버스 교환의 경우에는, "마스터"로서의 요구 유니트가 스스로 식별하여 "슬레이브"유니트에게 응답이 요망된다는 것을 지시한다. 슬레이브가 응답할 준비가 되었을때(예를 들어 요망된 정보를 얻을 준비가 되었을때), 이것은 "마스터"의 역할을 요구 유니트로의 정보 전송을 개시한다.The central processing unit 40 as well as the respective controller and memory subsystems communicate over the
따라서, 버스 사이클 수는 실행될 동작 유형에 따라 변동한다.Thus, the number of bus cycles varies depending on the type of operation to be performed.
제2도와 관련하여 설명할 제어 라인에 인가되는 신호들의 상태를 변경시킴으로써 어떤 유니트는 다른 유니트로 사이클의 유형 또는 개시되거나 실행될 동작을 지정할 수 있게 된다.By changing the state of the signals applied to the control line to be described in connection with FIG. 2, one unit can specify the type of cycle or operation to be started or executed by another unit.
분산된 다이 브레이킹 회로망(tie-breaking network)은 버스 사이클을 허용하여 버스(10)의 사용을 위한 동시 요구를 해결한다. 그 우선 순위는 버스(10)상의 물리적인 위치를 기초로 하여 허용되며, 최상위 우선 순위은 버스상의 제1유니트에 주어진다. 통상의 시스템에 있어서, 메모리 서브 시스템은 최상위 우선순위를 허용되게 하며, 중앙처리장치는 다른 유니트가 그 성능 요건을 기초로하여 위치되도록 최하위 우선순위를 허용되게 한다.A distributed die-breaking network allows bus cycles to solve concurrent requirements for the use of
메모리 서브 시스템 인터페이스 라인Memory subsystem interface line
명령 설명Command Description
어드레스 라인Address line
BSAD00-BSAD23 버스 어드레스 라인들은 버스 메모리 참조 라인 BSMREF과 관련하여 사용된 24비트폭 통로를 구성하여, 24비트 어드레스를 제어기(200)로 전송하거나 혹은 16비트 식별자를 제어기(200)에서 버스로 전송한다(슬레이브 유니트에 의한 수신을 위해). 메모리의 어드레스 지정을 위해 사용되는 경우에는, 라인(BSAD00-BSAD03)에 인가된 신호들이 특정 512K워어드 모듈을 선택하고, 라인(BSAD04-BSAD22)으로 인가된 신호들은 그 모듈내의 512K워어드 중 하나를 선택하는 반면, 라인(BSAD23)에 인가된 신호는 선택된 워어드 내의 바이트 중 하나를 선택한다(즉, BSAD23=1=우측 바이트 ; BSAD23=0=좌측 바이트). 식별을 위해 사용될때는, 라인(BSAD00-BSAD07)은 사용되지 않는다. 라인(BSAD08-BSAD23)은 선 메모리 요구동안 제어기(200)에 송신되는 수신 유니트의 식별기호를 캐리한다.The BSAD00-BSAD23 bus address lines constitute a 24-bit wide path used in connection with the bus memory reference line BSMREF to send a 24-bit address to the
BSAP00 이 버스 어드레스 패리티 라인은 라인(BSAD00-BSAD07)에 인가된 어드레스 신호를 위해 홀수 패리티신호를 공급하는 양방향성 라인이다.BSAP00 This bus address parity line is a bidirectional line that supplies an odd parity signal for the address signal applied to lines BSAD00-BSAD07.
데이타 라인Data line
BSDT00-BSDT15, BSDT16-BSDT31 일단의 버스 데이타 라인들은 수행된 동작 사이클 함수로서 제어기(200) 및 버스간에 데이타 또는 식별 정보를 전송하기 위한 32비트 또는 2워어드 폭의 양방향성 통로를 구성한다. 라이트 사이클 동작 동안, 이들 버스 데이타 라인은 라인(BSAD00-BSAD23)에 인가된 어드레스 신호에 의해 특정되는 위치에 있는 메모리내에 라이트될 정보를 전송한다. 리이드 사이클 동작의 제1반 사이클동안, 데이타 라인(BSDT00-BSDT15)은 식별정보(채널번호)를 제어기(200)로 전송한다. 리이드 사이클의 제2반 사이클 동안, 이들 데이타 라인은 메모리로 부터 판독된 정보를 전송한다.BSDT00-BSDT15, BSDT16-BSDT31 A group of bus data lines constitute a 32-bit or two-word wide bidirectional path for transferring data or identification information between the
BSDP00, BSDP08 BSDP16, BSDP24 이들은 버스 데이타 패리티 라인들로서, 다음과 같이 부호화된 홀수 패리티 신호를 공급하는 2세트의 양방향성 라인들이다.BSDP00, BSDP08 BSDP16, BSDP24 These are bus data parity lines, two sets of bidirectional lines that supply odd parity signals encoded as follows.
BSDP00 = 라인(BSDT00-BSDT07)에 인가된 신호에 대한 홀수 패리티(좌측 바이트) ;BSDP00 = odd parity (left byte) for signal applied to line (BSDT00-BSDT07);
BSDP08 = 라인(BADT08-BSDT15)에 인가되는 신호에 대한 홀수 패리티(우측 바이트) ;BSDP08 = odd parity (right byte) for the signal applied to the line BADT08-BSDT15;
BSDP16 = 라인(BSDT16-BSDT23)에 인가되는 신호에 대한 홀수 패리티BSDP16 = odd parity for the signal applied to the line (BSDT16-BSDT23)
BSDP24 = 라인(BSDT24-BSDT31)에 인가되는 신호에 대한 홀수 패리티 신호.BSDP24 = odd parity signal for the signal applied to the line (BSDT24-BSDT31).
제어 라인Control lines
BSMREF 이것은 버스 메로리 참조 라인으로서, 버스에서 메모리 제어기(200)까지 연장된다. 참상태로 세트될때, 이 라인은 라인(BSAD00-BSAD23)이 완전한 메모리 제어기 어드레스를 내포하고 특정 위치에 대한 라이트 또는 리이드 동작을 실행하고 있다는 것을 제어기(200)에 알린다.BSMREF This is a bus memory reference line that extends from the bus to the
거짓 상태로 리세트될때, 이 라인은 라인(BSAD00-BSAD23)이 제어기(200)가 아닌 다른 유니트로 전송된 정보를 내포하고 있다는 것을 제어기(200)에 알린다.When reset to false state, this line informs the
BSWRIT 버스 대기 라인은 버스에서 메로리 제어기(200)까지 연장되는데 이 라인은 참 상태로 세트될때, 참인 라인(BSMREF)과 관련하여 제어기(200)로 하여금 라이트 사이클 동작을 실행하게 한다. 거짓 상태로 리세트 될때, 이 라인은 참인 라인(BSMREF)와 관련하여 판독 사이클 동작을 실행하도록 제어기(200)에 신호한다.The BSWRIT bus wait line extends from the bus to the
BSBYTE 이것은 버스 바리트 라인으로서, 버스에서 제어기(200)까지 연장되는데, 이 라인은 참 상태로 세트될때 제어기(200)로 하여금 워어드 동작보다는 바아트 동작을 실행하게 한다.BSBYTE This is a bus barit line, which extends from the bus to the
BSLOCK 이것은 버스에서 제어기(200)로 연장된 버스 록 라인이다. 참 상태로 세트될때, 이 라인은 제어기(200)에게 시험을 실행되게 하거나 제어기(200)내에 포함된 메모리 폭 플립플롭의 상태를 변화시키도록 하는 요구 신호를 전송한다.BSLOCK This is a bus lock line extending from the bus to the
BSSHBC 이것은 제2하프 버스 사이클 라인으로서, 제어기(200)에 의해 버스로 인가된 현재 정보가 선 판독 요구에 요청된 정보라는 것을 유니트에 신호하는데 사용 된다. 이 경우에, 제어기(200) 및 정보 수신 유니트는 초기화 사이클이 시작될때부터 제어기(200)가 전송을 완료할때가지 모든 유니트들에게 바쁘게 통신한다. 이 라인은 (BSLOCK)라인과 관련하여 그 메모리 폭 플립플롭을 세트 또는 리세트시키는데 사용된다. 유니트가 리이드 또는 라이트할 것을 요구하고 라인(BSLOCK)이 참인 경우, 라인(BSSHBC)은 제어기(200)에게 그 록 플립플롭을 리세트시키도록 신호한다. 거짓 상태에 있을때, 이것은 제어기(200)에게 그 록 플립플롭을 시험 및 세트시키도록 신호한다.BSSHBC This is the second half bus cycle line, which is used to signal to the unit that the current information applied to the bus by the
BSMCLR 이것은 버스에서 제어기(200)까지 연장된 버스 마스터 클리어 라인이다, 이 라인이 참 상태로 세트되었을때, 이것은 제어기(200)에게 어떤 버스 회로을 제로로 클리어 시키도록 한다.BSMCLR This is a bus master clear line extending from the bus to the
BSDBWD 이것은 제어기(200)로 부터 버스(10)로 연장된 단일방향 라인인 2중 워어드 라인이다. 이 라인은 (BSDBPL)라인과 함께 리이드 요구동안 메모리 제어기(200)에 의해 얼마나 많은 데이타 워어드가 있는지 또는 어떤 포오맷이 제공되는지를 가리키도록 사용된다. 메모리 제어기(200)로 부터의 판독 응답 사이클동안 라인(BSDBWD)의 상태은 데이타의 1개 또는 2개의 워어드가 버스(10)에 인가되고 있는지의 여부를 가리킨다.BSDBWD This is a double worded line which is a unidirectional line extending from the
라인(BSDBWD)이 2진수 1상태로 되었을때, 이것은 2워어드가 전송되고 있음을 가리키고, 단지 1개의 워어드만 전송될때는 라인(BSDBWD)은 2진수 O으로 된다.When the line (BSDBWD) is in binary 1 state, it indicates that 2 words are being transmitted, and when only one word is transmitted, the line (BSDBWD) is binary O.
BSDBPL 이것은 제어기(200) 및 버스(10)간에 연장된 양방향성 라인인 2중 풀라인이다. 이 라인은 라인(BSDBWB) 과 함께 응답이 요구된 데이타의 처음(마지막 아님)인지 또는 마지막 유니트 인지를 가리킨다.BSDBPL This is a double full line, which is a bidirectional line extending between the
버스 핸드 세이크/타이밍 라인Bus Handshake / Timing Line
BSREQT 이것은 버스와 제어기(200)간에 연장된 양방향성 라인인 버스 요구 라인이다. 참 상태로 세트된 경우, 이것은 제어기(200)로 하여금 다른 유니트가 버스 사이클을 요구하고 있다는 것을 가리킨다. 거짓 상태로 리세트 되었을때, 이것은 제어기(200)에게 버스 요구를 체류시키는 버스가 전혀 없다는 것을 알린다. 이 라인은 제2하프 버스 판독 사이클을 요구하기 위해 제어기(200)에 의하여 참 상태로 된다.BSREQT This is a bus request line, which is a bidirectional line extending between the bus and the
BSDCNN 이것은 버스 및 제어기(200)간에 연장된 양방향성 라인은 데이타 사이클 라인이다. 참 상태로 되었을때, 이 라인은 제어기(200)에게 어떤 유니트가 요구했었던 버스 사이클을 허용받아 버스상의 정보를 다른 유니트로 전송 한다. 제어기(200)는 라인을 참 상태로 되게하여 요구된 데이타를 어떤 유니트로 다시 전송하고 있음을 알린다. 이에 앞서 제어기(200)가 버스 사이클을 요구하여 허용 받는다.BSDCNN This is a bidirectional line extending between the bus and the
BSACKR 이것은 버스와 제어기(200)간에 연장된 양방향성 라인인 버스 긍정응답 라인이다. 제어기(200)에 의해 2진수 1로 세트된 경우, 상기 라인은 제어기(200)에게 리이드 제1하프버스 사이클 또는 리이트 사이클동안 버스 전송을 받아들이고 있음을 신호한다. 리이드 제2하프 버스 사이클동안, 이 라인은 요구 개시하였던 유니트에 의해 2진수 1로 세트된 경우 제어기(200)에게 그 전송의 수령을 신호한다.BSACKR This is a bus acknowledgment line, which is a bidirectional line extending between the bus and the
BSWAIT 이것은 버스 및 제어기(200)간에 연장된 양방향성 라인인 버스 대기 라인이다. 제어기(200)에 의해 참 또는 2진수 1상태로 세트되었을때. 이것은 요구 유니트에게 제어기(200)가 전송을 받아들일 수 없음을 신호한다. 그후, 이 유니트는 제어기(200)가 그 전송에 긍정긍답할때까지 연속적인 재시도를 개시한다. 제어기(200)는 다음의 조건하에서는 BSWAIT라인을 참상태로 설정한다.BSWAIT This is the bus wait line, which is a bidirectional line extending between the bus and the
1. 내부의 리이드 또는 라이트 동작 사이클을 바쁘게 실행하는 중이다.1. Busy internal lead or write operation cycles.
2. 리이드 제2하프 버스 사이클을 요구하는 있는 중이다.2. You are requesting a lead second half bus cycle.
3. 리프레시 동작을 기대하고 있는 중이다.3. Expecting refresh operation.
4. 리프세시 동작을 실행하고 있는 중이다.4. You are running a leaf-session operation.
5. 초기화 모우드에 놓였을때 바쁘다.5. Busy when placed in initialization mode.
BSWAIT라인이 어떤 유니트에 의해 참 또는 2진수의 1의 상태로 세트되었을때, 이것은 제어기(200)에게 요구 유니트가 데이타를 받아들이지 않아 현재의 버스 사이클 동작을 종료할 것을 신호한다.When the BSWAIT line is set to true or binary 1 by a unit, this signals the
BSNAKR 이것은 버스 및 제어기(200)간에 연장된 양방향성 라인인 버스 부정응답 라인이다. 이 라인이 제어기(200)에 의해 참 또는 2진수 1상태로 세트될때 이것은 특정화된 이송을 거부하고 있음을 신호한다. 제어기(200)는 라인(BSNAKR)을 다음과 같이 참 상태로 설정한다.BSNAKR This is a bus negative response line, which is a bidirectional line extending between the bus and the
1. 메모리 록 플립 플롭이 2진수 1 상태로 설정되고,1.The memory lock flip flop is set to binary 1 state,
2. 요구가 록 플립플롭을 시험 및 설정한다. (BSLOCK는 참, BSSHBC는 거짓).2. Test and set lock flip-flop as required. (BSLOCK is true, BSSHBC is false).
모든 경우에 있어서, 메몰 : 록 플립플롭이 세트된 경우, 제어기(200)는 BSACKR라인 또는 BSWAIT라인을 거쳐 응답을 발생하거나 무응답을 초래한다.In all cases, if a memo: lock flip-flop is set, the
SNAKR라인이 어떤 유니트에 의해 참으로 되었을때, 이것은 제어기(200)에게 어떤 유니트가 데이타를 받아들이지 않아 그 사이클 동작을 종료할 것을 신호한다.When the SNAKR line is made true by a unit, this signals the
타이 브레이킹 제어라인Tie Breaking Control Line
SAUOK-BSIUOK 이것은 버스에서 제어기(200)까지 연장된 타이 브레이킹 회로망 라인이다. 이들 라인은 높은 상위 우선 순위의 유니트들이 버스 요구를 했는지를 제어기(200)에게 신호한다. 이들 라인상의 모든 신호가 2진수 1일때, 이것은 제어기(200)에게 BSDCNN라인을 2진수 1상태로 만들 수 있는 시간에 버스 사이클이 허용되었다는 것을 신호한다. 라인상의 신호중 어떤 신호가 2진수 0일때, 이것은 제어기(200)에게 버스 사이클이 허용되지 않아 라인(BSDCNN)이 2진수 1로 되는 것을 억제하였다는 사실을 알린다.SAUOK-BSIUOK This is a tie breaking network line extending from the bus to the
BSMYOK 이것은 제어기(200)에서 버스까지 연장된 타이 브레이킹 회로망 라인이다. 제어기(200)는 이 라인을 거짓 또는 2진수 0상태로 되게 하여 보다 낮은 우선순위의 버스 요구를 다른 유니트에게 알린다.BSMYOK This is a tie breaking network line extending from the
제1도의 메모리 서브시트템에 대한 일반적인 설명General Description of the Memory Subsystem of Figure 1
제3도는 본 발명의 원리를 사용하여 구성된 제어기(200-1)를 포함하는 메모리 서브시스템(200-1)의 양호한 실시예를 도시한 것이다 제1도를 참조하면, 제어기(200-1)는 메모리부(210)의 2개의 256K 워어드 메모리 모듈 유니트(210-2), (210-4)를 제어한다는 것을 알 수 있다. 블록(210-2), (210-4)의 모듈 유니트 블록(210-20), (210-40)에 대응하는 고속도 MOS RAM이 직접화된 회로와. 블록(210-22) 내지 (210-26)과 그리고 (210-42) 내지 (210-46)에 대응하는 어드레스 버퍼 회로를 포함하고 있다. 256K메모리 유니트는 제4c도에 상세히 예시된 1비트 다이나믹 MOS RAM칩에 의한 64K워어드로부터 구성된다. 제4c도를 참조하여 구체적으로 설명하면, 각각의 256×22비트 메모리 모듈은 88,65,534(64K)워어드×1 비트 칩을 포함하는데, 그 각각의 칩 내에는 기억 셀의 256행×22열의 메트릭스로 구성된 다수의 기억 어레이가 있다.FIG. 3 illustrates a preferred embodiment of a memory subsystem 200-1 including a controller 200-1 configured using the principles of the present invention. Referring to FIG. It can be seen that the two 256K word memory module units 210-2 and 210-4 of the
제어기(200-1)는 메모리 타이밍 신호를 발생하여. 리프세시 동작, 제어동작, 데이타 전송동작, 어드레스 분산 및 디코딩동작, 그리고 버스 인터페이스 동작을 실행하는데 필요한 회로들을 포함한다. 이들 회로는 제3도의 다른 부들의 일부분으로서 포함되어 있다.The controller 200-1 generates a memory timing signal. Circuits necessary to perform leaf-session operations, control operations, data transfer operations, address distribution and decoding operations, and bus interface operations. These circuits are included as part of the other parts of FIG.
상기 다른 부들은 타이밍부(204), 리프레시 제어부(205), 데이타 제어부(206), 어드레스부(207), 리이드/라이트 제어부(208), 데이타인부(209), 버스제어회로부(211), 메모리 초기화 회로부(212) 및 버스 드라이버/수신기 회로부(213)이다.The other units include the
버스 제어부(211)든 단일 및 2중 워어드 동작용 버스 사이클 요구를 발생시켜 채택시켜 채택하기 위한 신호를 발생하는 회로들을 포함한다. 제3도로부터 알 수 있는 바와 같이, 이들 회로들 뿐만 아니라 다른 부의 회로들은 통상의 설계로된 드라이버/수신기회로(213)를 통해 버스로 접속된다. 버스제어회로부(211)는 버스상의 유니트의 물리적인 위치를 기초로하여 요구 우선순위를 해결하는 타이 브레이킹 회로망을 포함한다. 버스(10)의 가장 좌측 또는 최하측 위치에 위치된 제1도의 메모리 제어기(200-1)에는 최상의 우선순위가 할당되어 있는 반면, 버스의 가장 높은 곳 또는 최상위 위치에 위치된 중앙처리장치(40)에는 최하위 우선순위가 할당되어 있다. 버스 동작에 대한 추가의 정보에 대해서는 1976년 12월 28일자로 특허된 미합중국 특허 제4,000,485호를 참조하면 된다.The
제4a도에서 상세히 도시된 타이밍부(204)는 메모리 리이드 및 라이트 동작으로부터 요구된 타이밍 신호 시퀸스를 발생시키는 회로를 포함한다. 제3도에서 알 수 있듯이, 이 타이밍부(204)는 리프레시 제어부(205), 데이타 제어브(206), 어드레스부(207), 리이드/라이트 제어부(208), 버스제어회로부(211), 버스 드라이버 수신기 회로(213)로부터 신호를 송수신한다.
제4b도에 상세히 도시된 어드레스부(207)는 리프레시 동작, 초기화 동작 및 리이드/라이트 선택에 필요한 신호를 해독, 발생 및 분산하는 회로들을 포함한다. 이 어드레스부(207)는 라인(BSMREF)으로부터 메모리 참조 제어 신호르 수신할 뿐만 아니라 라인(BSAD00-BSAD23) 및 (BSAP00)으로부터 어드레스 신호들을 수신하다. 아울러. 상기 어드레스부(207)는 타이밍부(204), 리프레시 제어부(205), 메모리 초기화부(212) 및 제어부(215)로부터 제어 및 타이밍 신호들을 수신한다.The
메모리 초기화부(212)는 제어기 회로들을 초기화 또는 소정의 상태로 클리어 시키기위해 통상의 회로들을 포함한다.The
리이드/라이트 제어부(208)는 통상의 레지스터 회로 및 제어 논리회로를 포함한다. 상기 레지스터 회로들은 라인 (BSWRIT)(BSBYIE)(BSDBPL)(BSDBWD)및 (BSAD23)의 상태에 대응하는 신호들을 수신 및 기억한다. 또, 상기 제어논리회로는 레지스터회로들로부터 인입된 신호를 해독하여 제어기(200)가 리이드. 라이트, 또는 라이트 동작 사이클(즉, 바이트 명령에 대한)에 의해 수반되는 리이드를 실행하는지의 여부를 설정하기 위해 타이밍(204), 어드레드부(207) 및 메모리부(210)에 인가되는 신호들을 발생시킨다.The lead / write control unit 208 includes conventional register circuits and control logic circuits. The register circuits receive and store signals corresponding to the states of lines BSWRIT (BSBYIE) (BSDBPL) (BSDBWD) and (BSAD23). In addition, the control logic circuit reads the incoming signal from the register circuits, the
리프레시 제어부(205)는 메모리의 내용을 주기적으로 리프레시 하기 위한 회로들을 포함한다. 이 리프레시 제어부(205)는 타이밍부(204)로부터 타이밍 및 제어신호들을 수신하여 타이밍부(204), 어드레스부(207), 리이드/라이트 제어부(208), 그리고 메모리 초기화부(212)에 리프레시 명령 제어신호들을 공급한다. 이것에 대한 추가의 정보에 대해서는 리프레서 명령(REFCOM)신호를 발생시키기 위한 회로들을 기재하고 있는 미합중국 특허 제 1,185,323호를 참조하면 된다.The refresh control unit 205 includes circuits for periodically refreshing the contents of the memory. The refresh control unit 205 receives timing and control signals from the
데이타 부(209)에 구성된 블록(209-4)은 데이타 제어부(206)로부터의 신호들을 수신하도록 접속된 1쌍의 멀티플렉서 및 어드레스 레지스터를 포함한다. 통상의 멀티플렉서 회로들은 2세트의 버스 라인(BSDT00-15) 및 (BSDT16-31)으로부터 데이타 워어드를 수신하여 라이트 동작 사이클 동안 일단의 출력 라인(MDIE000-015) 및 (MDIO 000-15)을 통해 적절한 워어드를 정확한 메모리 모듈들에 인가한다. 즉, 메모리 초기화부(212)로부터 나온 초기화 신호(LNITTM310)가 2진수 0일때(즉, 초기화 모드가 아닐때)AND게이트(209-10)에 의해 발생된 신호(MOWTES000)에 의해 멀티플렉서회로들이 선택적으로 인에블된다. AND게이트(209-10)는 버스 어드레스 비트 22(즉, 신호 BSAD22)의 함수와 그리고 제어기(200)가 라이트 동작을 행하는지의 여부(즉, 신호 BSWRIT)에 따라 신호(MOWTES 000)를 발생한다. 라이트 동작동안, 상기 신호(MOWTES000)는 정확한 메모리 유니트에 인가될 정확한 데이타 워어드(즉, 버스라인 BSDT00-15 또는 BSDT16-31에 인가될 신호)를 선택한다. 이에 따라, 어떤 워어드 경계에 대한 라이트 동작의 개시를 가능하케 한다.Block 209-4 configured in data portion 209 includes a pair of multiplexers and address registers connected to receive signals from data controller 206. Conventional multiplexer circuits receive data words from two sets of bus lines (BSDT00-15) and (BSDT16-31) and through a set of output lines (MDIE000-015) and (MDIO 000-15) during a write operation cycle. Apply the appropriate word to the correct memory modules. That is, the multiplexer circuits are selectively selected by the signal MOWTES000 generated by the AND gate 209-10 when the initialization signal LNIT 310 from the
리이드 동작동안, 상기 멀티플레서 회로들이 버스 라인(BSDT00-15)으로 부터 수신된 모듈 식별 정보를 어드레스 버스라인(BSAD08-23)에 재인가하도록 조절된다. 이것은 라인(BSDT00-15)에 인가될 신호들을 데이타 제어부(206)의 짝수 데이타 레지스터(206-8)에 로우딩 함으로써 행해진다. 이에따라, 블록(209-4)의 어드레스 레지스터 래치들을 버스 라인들(BSDT00-15)을 통해 전송된 모듈 식별 정보와 일치되게 한다. 이러한 동작은 본 발명의 이해와는 무관하기 때문에 추가의 설명은 생략한다.During the read operation, the multiplexer circuits are adjusted to reapply the module identification information received from the bus line BDT00-15 to the address busline BSAD08-23. This is done by loading the signals to be applied to the line BDT00-15 to the even data registers 206-8 of the data control section 206. Accordingly, the address register latches of block 209-4 are matched with the module identification information sent over the bus lines BDT00-15. Since this operation is not relevant to the understanding of the present invention, further description is omitted.
데이타 제어부(206)은 3상태로 동작되는 데이타 레지스터(206-8), (206-10)와, 제어회로들과 연합하여 메모리부(210)의 짝수 및 홀수 메모리 유니트(210-20), (210-40) 에 데이타를 기록하거나 또는 이것들로 부터 데이타를 판독할 수 있게 하는 멀티플렉서 회로(206-16), (206-18)를 포함한다. 예를들어, 2중폭 리이드 사이클 동작을 행하는 동안, 오퍼란드 또는 명령신호들이 메모리 유니트(210-20) 및 (210-40)로 부터 판독되어 짝수 및 홀수 출력 레지스터(206-8) 및 (206-10)으로 들어온다. 라이트 동작 사이클 동안에는, 신호(MDIE000-15) 및 (MDI0000-15)가 데이타인 부(209-4)를 통해 버스로 부터 1쌍의 레지스터(206-8), (206-10)의 가장좌측부로 로우드되어 메모리부(210)의 홀수 또는 짝수 유니트에 기록된다.The data control unit 206 is associated with the data registers 206-8 and 206-10 operating in three states, and the control circuits for even and odd memory units 210-20 and ( And multiplexer circuits 206-16 and 206-18 that allow data to be written to or read from them. For example, during a double-lead cycle operation, operands or command signals are read from the memory units 210-20 and 210-40 and the even and odd output registers 206-8 and 206-. Enter 10). During the write operation cycle, signals MDIE000-15 and MDI0000-15 are from the bus to the leftmost part of the pair of registers 206-8, 206-10 via data 209-4. It is rolled out and written to an odd or even unit of the
제어기(200-1)는 에러 검출 및 교정(EDAC)장치를 포함하는데, 그 각각의 워어드는 데이타 워어드의 단일 비트 에러를 검출하고 교정할 수 있게 그리고 교정없이 데이타 워어드의 2중 비트 에러를 검출하여 신호할 수 있게 사용되는 16개의 데이타 비트 및 6개의 체크비트를 포함한다. 이러한 EDAC장치는 2세트의 EDAC엔코더/디코더 회로(206-12)(206-14)를 포함한다. 이들 회로는 1978년 2월 7일자로 특허된 미합중국 특허 제4,072,853호에 기재된 회로이다. 아울러, 데이타 제어부(206)는 데이타 라인(BADT00-15)으로 부터 수신되고 어드레스 라인(BSAD08-23)을 통해 레지스터(209-4)에 기억된 식별 정보의 복귀를 가능케한다.The controller 200-1 includes an error detection and correction (EDAC) device, each of which is capable of detecting and correcting a single bit error of the data word and without double correction of the data word without correction. It includes sixteen data bits and six check bits that are used to detect and signal. This EDAC device includes two sets of EDAC encoder / decoder circuits 206-12 and 206-14. These circuits are those described in US Pat. No. 4,072,853, filed February 7, 1978. In addition, the data control unit 206 enables the return of the identification information received from the data line BADT00-15 and stored in the register 209-4 through the address line BSAD08-23.
큐 제어부(215)도 역시 제어부(200-1)의 일부분으로서 포함되어 있다. 이 큐 제어부(215)는 다수의 메모리 요구 신호들을 동시에 처리하기 위해 어드레스 및 제어정보 기억용 회로들을 포함한다. 제3도에서 알수 있는 바와 같이 큐 제어부(215)는 타이밍부(204), 리프레시 제어부(205), 어드레스 제어부(207), 버스제어 회로부(211) 및 메모리 초기화부(212)로 부터 나온 제어 신호들을 수신한다. 이 큐 제어부(215)는 타이밍부(204), 데이타 제어부(206), 어드레스 제어부(207), 리이드/라이트 제어부(208)로 인가되는 신호를 제어한다. 이 회로의 동작은 본 발명의 이해에 그다지 필요하지 않으므로, 상세한 설명은 생략한다.The
이제, 상술한 부들의 관련 부분들에 대해서는 제4a도 내지 제4c도를 참조하여 상세히 설명한다.Now, the relevant parts of the above-mentioned parts will be described in detail with reference to FIGS. 4A to 4C.
제기 부들의 상세한 설명Detailed description of filed parts
본 발명의 이해에 필요하다고 생각되는 부들에 대해서만 여기서 설명된다. 나머지 부들에 대한 추가의 정보에 대해서는 관련된 특허 출원 또는 미합중국 특허 4,185,323호를 보면 될 것이다.Only those parts deemed necessary for the understanding of the present invention are described herein. Further information on the remaining parts may be found in related patent applications or in US Pat. No. 4,185,323.
타이밍 회로부(204) 및 어드레스 회로부(206)
제4도는 타이밍부(204)를 보다 더 상세히 도시한 것이다. 이 회로는 통상의 지연선 타이밍 발생기회로(도시생략)로 부터 입력 타이밍 펄스 신호(DLYINN 010), (TTAP01010) 및 (TTAP02010)을 수신한다. 이러한 회로는 미합중국 특허 제4,185,323호에 도시된 타이밍 발생기 회로의 구성으로 부터 얻어진 것이다. 타이밍 발생기 회로는 2진수 1로 절환된 신호(MYACKR010)에 응답하여 1쌍의 직렬 연결된 200(ns)의 지연선들을 통해 직렬 타이밍 펄스를 발생한다. 이들 펄스 어드레스 회로부(204)의 회로와 함께 메모리 동작 사이클 동안 나머지 부들에 대한 타이밍을 설정한다.4 illustrates the
아울러, 타이밍 회로부(204)의 회로들은 어드레스 회로부(207)로 부터 어드레스 신호(LSAD 22200)(LSAD22210) 및 경계신호(MYBNDY 010)을 수신한다. 또한 메모리 초기화부(212)는 타이밍부(204)에 초기화신호(INITMM100)를 인가한다. 신호(MYBNDY 010)는 2진수 1일때 신호(RASINH010)를 2진수 0으로 되게 하는 NOR게이트 (204-5)에 인가된다. 직렬 접속된 AND RPDLXM(204-7)는 초기화 신호(INITMM 100) 및 리프레시 제어부(205)내로 회로에 의해 발생된 리프레시 명령신호(REFCOM 100)를 논리적으로 결합하여 신호(RASINH 000)를 생성한다. NAND 게이트 (204-8)는 신호(RASINH 000) 및 어드레스 신호(LSAD 22210)를 결합하여 짝수행 스토로브 금지 신호(ERASIH 000)를 생성한다. 이 신호는 AND게이트(204-1)를 거쳐 신호(DLYINN 010)로 부터 유도된 타이밍신호(MRASTT 010)와 결합하기 위하여 AND 게이트(204-10)에 인가된다. 여기서나온 출력 신호(MRASTE 010)는 짝수 스택 유니트(210-20) RAS 타이밍 입력에 인가된다.In addition, the circuits of the
NAND게이트(204-14)는 신호 (RASINH 010) 및 (LSAD22200)을 결합시켜 홀수 행 금지 신호(ORASIH 000)를 생성한다. 이 신호는 AND게이트(204-17)에서 타이밍 신호(MRASTT 010) 와 결합되어 행 타이밍 신호(MRAST 0010)를 발생시킨다. 이 신호는 또한 홀수 스택 유니트(210-40)의 RAS 타이밍 결합에 인가된다.The NAND gate 204-14 combines the signals RASINH 010 and LSAD22200 to generate an odd row inhibit signal ORASIH 000. This signal is combined with the timing signal MRASTT 010 at the AND gates 204-17 to generate the row timing signal MRAST 0010. This signal is also applied to the RAS timing coupling of the odd stack units 210-40.
제4a도에서 알 수 있는 바와 같이, AND 게이트(204-11)는 리프레시 명령의 부재시(즉, 신호 REFCOM 000=1)짝수 데이타 레지스터(206-8)와 중간부분의 G 입력 단자에 타이밍 신호 (MDOECT 000)를 인가한다. 마찬가지로, AND게이트(204-15)는 홀수 데이타 레지스터(206-10)의 중간 부분의 G입력 단자에 타이밍 신호(MDOOCT 000)를 인가한다. AND 게이트(204-3)는 신호(MRASTT 010)(REFCOM 100) 및 (TTADO 1010)을 결합시켜 타이밍 신호(MCASTT 010)를 발생시킨다. 이 신호(MCASTS 010)는 AND 게이트(204-18)를 통해 짝수 및 홀수 스택 유니트(210-20), (210-40)의 CAS타이밍 입력에 인가된다.As can be seen in FIG. 4A, the AND gate 204-11 has an even data register 206-8 in the absence of a refresh command (i.e., signal REFCOM 000 = 1) and a timing signal (G) at the middle G input terminal. MDOECT 000) is applied. Similarly, the AND gate 204-15 applies the timing signal MDOOCT 000 to the G input terminal of the middle portion of the odd data register 206-10. The AND gate 204-3 combines the signals MRASTT 010 (REFCOM 100) and TTADO 1010 to generate a timing signal MCASTT 010. This signal MCASTS 010 is applied to the CAS timing inputs of the even and odd stack units 210-20, 210-40 via AND gates 204-18.
마찬가지로, AND게이트 (204-19)는 타이밍 어드레스 신호(MCASAD 010)를 발생한다.신호(MCASAD 110)는 AND게이트(204-20)를 통해 어드레스 회로부(207)의 어드레스 회로에 인가된다.Similarly, the AND gates 204-19 generate the timing address signal MCASAD 010. The
짝수 및 홀수 데이타 레지스터(206-8) 및 (206-10)는 3상태로 동작된다. 구체적으로 말하자면, 이들 레지스터는 텍사스인트루먼츠사에 의해 제조된 SN74S373형과 같은 D형 투명 래치 회로들을 구성한다. 이들 레지스터 회로ㄷ르이 투명하다는 의미는 G입력에 인가된 신호가 2진수 1인 동안, Q출력 단자에서의 신호가 D입력단자에 인가되는 신호를 뒤따른다는 것이다. 즉, G입력단자에 인가된 신호가 로우드 될때, Q출력단자에서의 신호는 래치된다. 레지스터(206-8) 및 (206-10)의 출력단자들은 데이타 워어드 신호쌍의 다중화를 가능케하는 OR배열과 공통으로 접속된다. 이러한 다중화는 제3도에 도시한 레지스터(206-8)(206-10)의 상이한 출력제어(OC) 입력단자에 인가되는 신호(MQ2ELB000)(MQ1ELB000)(MDOTSC000) 및 (MDRELB000)의 상태를 제여함으로서 달성된다. 이러한 동작은 G입력단자에 인가된 신호에 응답하여 일어나는 레지스터 플립플롭의 래칭 작용과는 독립적이다.Even and odd data registers 206-8 and 206-10 operate in three states. Specifically, these resistors constitute D type transparent latch circuits such as SN74S373 type manufactured by Texas Instruments. These register circuits are transparent, meaning that while the signal applied to the G input is binary 1, the signal at the Q output terminal follows the signal applied to the D input terminal. That is, when the signal applied to the G input terminal is locked, the signal at the Q output terminal is latched. The output terminals of registers 206-8 and 206-10 are commonly connected with an OR array that enables multiplexing of the data word signal pairs. This multiplexing gives the states of signals (MQ2ELB000) (MQ1ELB000) (MDOTSC000) and (MDRELB000) applied to different output control (OC) input terminals of the registers 206-8 and 206-10 shown in FIG. Is achieved. This operation is independent of the latching action of the register flip-flop that occurs in response to a signal applied to the G input terminal.
직렬접속된 일단의 게이트(204-22) 내지 (204-26)은 신호(MDOTSC100) 및 (MDOTSC010)의 상태를 제어한다. 게이트(204-22)는 버스로 부터 인입된 식별 기억을 가능케 하기 위하여 리이드 또는 라이트 사이클의 시작시에 타이밍 신호(DLYINN010) 및 (DLY020100)을 수신한다. 이것을 본 발명의 이해에 별반 필요치 않으므로, 신호(PULS20210)가 2진수 0의 상태에 있는 것으로 생각할 수 있다. 리이드 동작동안은, 리이드 명령 신호(READCM000)가 2진수 0으로 되어 신호(MDOTSC100)를 AND게이트(204-26)에 의해 2진수 0으로 되게 한다.A series of gates 204-22 to 204-26 connected in series control the states of the signals MDOTSC100 and MDOTSC010. Gates 204-22 receive timing signals DLYINN010 and DLY020100 at the beginning of the lead or write cycle to enable identification memory to be drawn from the bus. Since this is not necessary for the understanding of the present invention, it can be considered that the signal PULS20210 is in the state of binary zero. During the read operation, the read command signal READCM000 becomes binary zero so that the signal MDOTSC100 becomes binary zero by the AND gates 204-26.
신호(MDOTSC100)는 2진수 0일때 레지스터(206-8) 및 (206-10)의 중간부분을 인에이블시켜 그들의 내용을 그 출력 단자에 출력시킨다. 라이트 동작동안에는, 리이드 명령신호(READCM000)가 2진수 1로 될때, AND게이트 (204-26)는 신호(MDOTSC100)를 2진수 1로 되게 한다. 이에 따라, 상술한 것과는 반대의 결과가 발생한다. 즉, 신호(MODTSC100는 레지스터(206-8)(206-10)의 중간 부들을 금지되게하여 그들의 내용을출력단자에 출력시키기 않도록 한다.The signal MDOTSC100 enables the middle portions of registers 206-8 and 206-10 when binary 0, and outputs their contents to their output terminals. During the write operation, when the lead command signal READCM000 becomes binary 1, the AND gates 204-26 cause the signal MDOTSC100 to be binary 1. This results in the opposite of the above. That is, the signal MODTSC100 prevents the middle portions of the registers 206-8 and 206-10 from outputting their contents to the output terminal.
레지스터(206-8)(206-10)의 가장좌측 부분들은 신호(MDRELE000)가 2진수 0일때 그들 내용을 출력단자에 인하하도록 인에블된다. 본 발명의 목적상, 신호(MDRELB000)는 2진수 1상태에 있는 것으로 생각한다.The leftmost portions of registers 206-8 and 206-10 are enabled to lower their contents to the output terminal when signal MDRELE000 is binary zero. For the purposes of the present invention, the signal MDRELB000 is assumed to be in binary one state.
따라서, 레지스터들의 가장우측 부들은 그들 내용을 출력단자로 인가하는 것을 금지되게 한다.Thus, the rightmost parts of the registers are prohibited from applying their contents to the output terminal.
레지스터(206-8)(206-10)의 최좌측 2개 부분은 큐 제어부(215)에서 발생되는 신호(MQ1ELB000) 및 (M12ELB000)의 상태에 따라 제어된다. 신호(MDOTSC000)는 그 논리가 2진수 0일때 큐 제어부(215)로 부터 나온 신호(Q1TRST010)(Q2TRST000) 상태의 함수로서 레지스터(206-8) 또는 (206-10)중 어느 한쪽의 가장 좌측 2개 부들중 하나의 인에이블한다. 신호(Q1TRST010)가 2진수 1일때 신호(Q2TRST000)는 2진수 0이고, 큐 제어부(215)는 신호(MQ1ELB000)를 2진수 상태로 되게한다. 이것은 레지스터(206-8) 및 (206-10)의 Q1부를 인에이블하여 그 내용을 출력단자로 인가되게 한다. 역으로, 신호(Q1TRST010)가 2진수 0일때, 신호(Q2TRST000)는 2진수 1이고, 큐 제어부(215)는 신호(MQ1ELB000)를 2진수 0으로 되게 한다. 이것은 레지스터(206-8)(20-10)의 Q2부분은 인에이블하여 그 내용을 출력단자로 인가되게 한다.The leftmost two portions of the registers 206-8 and 206-10 are controlled in accordance with the states of the signals MQ1ELB000 and M12ELB000 generated by the
어드레스 회로부(207)
제4b도는 어드레스 회로부(207)의 다른 부들을 예시한 것이다. 도시한 바와 같이, 어드레스 회로부(207)는 입력 어드레스부(207-1), 어드레스 디코딩부(207-2), 그리고 어드레스 레지스터부(207-4)를 포함한다.4B illustrates other portions of the
어드레스부(207-1) 및 어드레스 디코딩부(207-2)Address section 207-1 and address decoding section 207-2
입력 어드레스부(207-1)는 최하위 버스 어드레스 비트 22 및 상위 칩 선택 어드레스 비트 4, 5를 기억하기 위한 레지스터(207-12)를 포함한다. 이들 3개의 신호들은 어드레스 스트로브 신호(ADDSTR000)가 2진수 0으로 될때 레지스터(207-12)내로 로우드 된다. 이것은 메모리가 비지상태일 때(즉, 버스 사이클/메모리 요구를 받아들일 때)일어난다.The input address section 207-1 includes registers 207-12 for storing the lowest
이들 3개의 어드레스 신호들은 설명의 편의상 버스 드라이버 수신기회로(213)를 거쳐서 버스(10)로 부터 수신되는 것으로 도시 하였다. 즉, 이들 어드레스 신호들은 소오스로서 어드레스부(207)의 일부로서 포함된 큐 어드레스 레지스터들을 가질 수 있다. 이러한 큐 회로에 대한 추가의 정보에 대해서는, 1980년 10월 31일자 출원된 미합중국 특허원 제202,821호를 참조하면 된다.These three address signals are shown as being received from the
입력 어드레스부(207-1) 또한 블록(207-15)인 경계 검출 회로들을 포함할 수도 있다. 이들 회로들은 AND게이트(207-18)를 통해 D형 플립플롭(207-19)의 D 입력단자 접속되는 NAND 게이트(207-16)를 포함한다. NAND게이트(207-16)는 버스(10)로 부터 메모리 요구 어드레스 비트22-19를 수신한다. 게이트(207-16)는 어드레스 비트22-19가 모두 2진수 1일때 그 출력 검출된 경계 신호(DBSA 16000)를 2진수 0으로 되게 한다. 모든 다른 경우에 있어서는, 신호(DBSA 16000)가 2진수 1이다. 신호(BSDBWD 110)는 2중 워어드 전송이 수행되고 있는 경우에는 2진수 1이다. 신호(DBSA 16000)는 그 논리가 2진수 1일때, AND 게이트(207-18)로 하여금 그 출력신호(BOUNDY 100)를 2진수 1로 되게하여 플립플롭(207-19)을 2진수 1로 절환시킨다. 이에따라, 신호(MYBNDY 110)가 2진수 1로 되어 어떤 경계 조건이 없음을 가리킨다. 신호(DBSA 16000)이 2진수 0으로 절환될 때, 이것은 신호(BOUNDY 110)를 2진수 0으로 되게하여 플립플롭(207-19)을 2진수 1에서 2진수 0으로 전환시킨다. 신호(MYBNDY 110)는 타이밍부(204)의 입력으로 인가된다.The input address portion 207-1 may also include boundary detection circuits, which are blocks 207-15. These circuits include a NAND gate 207-16 that is connected to the D input terminal of the D flip-flop 207-19 through an AND gate 207-18. NAND gates 207-16 receive memory request address bits 22-19 from
도시된 바와 같이, 상위 어드레스 비트 신호(LSAD 05210) 및 (LSAD 04210)가 2진 디코더 회로(207-20)의 입력단자에 인가된다. 최하위 비트 어드레스 신호(LSAD 22210) 및 인버터회로(207-22)에 의해 발생되는 그 보수 신호(LSAD 22200)는 타이밍회로부(204) 및 데이타 제어부(206)에 인가된다.As shown, the upper address bit signal LSAD 05210 and LSAD 04210 are applied to the input terminal of the binary decoder circuit 207-20. The least significant bit address signal LSAD 22210 and the complement signal LSAD 22200 generated by the inverter circuits 207-22 are applied to the
2진 디코더(207-20)는 게이트(G)단자의 접지에 의한 동작을 위해 인에이블된다. 4개의 디코딩출력(DECOD0000) 내지 (DECOD 3000)의 각각의 NAND게이트(207-24) 내지 (207-30)에 접속된다. 이때, 제로 디코딩 신호(DECOD 0000)가 0행 어드레스 스트로브 신호(DRAST 0010)을 발생시키는 NAND 게이트(207-24)의 입력에 접속되었음을 유의해야 한다. 마찬가지로 1디코딩 신호(DECOD 1000)는 1행 어드레스 스트로브 신호(DRAST 1010)를 발생시키는 NAND게이트(207-26)의 입력에 접속되어 있다. 다음의 순차적인 디코딩 신호(DECOD 2000)는 다음의 순차 행 어드레스 스트로브 신호(DRAST 2010)를 발생시키는 NAND 게이트(207-28)에 접속된다. 끝으로, 마지막 디코딩 신호(DECOD 3000)는 3행 어드레스 스트로브 신호(DRAST 3010)를 발생시키는 NAND게이트(270-30)에 접속된다.The binary decoder 207-20 is enabled for operation by the ground of the gate G terminal. Each of the four decoding outputs DECOD0000 to
또한, 이들 게이트 AND 게이트(207-32)로 부터 신호(OVRDEC 000)를 수신한다. 신호(OVRDEC 000)가 2진수 0일때, 이것은 (REFCOM 100) 또는 (INITMM 100)중 어느 한쪽이 0상태일때 신호(DRAST 0010) 내지 (DRAST 3010)의 각각을 2진수 1상태로 되게 한다.The signal OVRDEC 000 is also received from these gate AND gates 207-32. When signal OVRDEC 000 is binary 0, this causes each of signals DRAST 0010 to DRAST 3010 to be binary 1 when either (REFCOM 100) or (INITMM 100) is in the 0 state.
도시하였듯이, 짝수 및 홀수 행 어드레스 스트로브 신호들은 짝수 및 홀수 스택 유니트(210-20)(210-40)의 RAM 칩에 인가된다.As shown, even and odd row address strobe signals are applied to the RAM chips of even and odd stack units 210-20 and 210-40.
어드레스 레지스터부(207-4)Address register section 207-4
제4도에 도시된 바와 같이, 어드레스 레지스터부(207-4)는 행 어드레스 레지스터(207-40), 열 어드레스 레지스터(207-42) 및 가산기 회로(207-54)의 입력으로서 어드레스부(207)의 큐 어드레스 레지스터들을 통해 인가되는 버스 어드레스 신호(BSAD 06210) 내지 (BSAD 22210)을 수신한다.As shown in FIG. 4, the address register section 207-4 has an
레지스터(207-40)(207-42)의 게이트 입력 단자들은 타이밍부(204)로 부터 메모리 비지 신호(MEMBUZ 010)를 수신하도록 접속되어 있다. 행 어드레스 레지스터(207-40)의 OC 입력단자는 신호(IMTMM 000)(REFCOM 000)(MCASAD 110)에 응답하여 AND게이트(207-44), 인터버회로(207-46) 및 NAND 게이트(207-47)에 의해 발생된 타이밍 신호(MRASCT 000)를 수신하도록 접속되어 있다. 또, 열 어드레스 레지스터(207-42)의 OC입력단자는 신호(INTEREF 000)(MCASAD 110)에 응답하여 NAND게이트(207-50)에 의해 발생된 타이밍 신호(MCASCT 000)를 수신하도록 접속된다. 신호(INTREF 000)는 신호(INITMM 00) 및 (REFCOM 000)을 수신하는 AND 게이트(207-44)에 의해 발생된다.The gate input terminals of the registers 207-40 and 207-42 are connected to receive the memory busy signal MEMBUZ 010 from the
어드레스 레지스터(207-40)(207-42)의 각각은 이미 설명한 바 있는 SN74S373형과 같은 D형의 투명 래치회로로 구성할 수 있다. 제4b도에서 알 수 있는 바와 같이, 각 세트의 레지스터의 다른 어드레스 출력 단자는 이들 어드레스 신호들의 승산을 가능케 하기 위하여 OR배열과 공통으로 접속되어 있다. 이미 설명한 바와 같이, 이러한 승산은 레지스터(207-40)(207-42)이 출력제어(OC)입력 단자들에 인가되는 신호의 상태를 제어함으로써 달성된다.Each of the address registers 207-40 and 207-42 can be configured with a D-type transparent latch circuit such as the SN74S373 type described above. As can be seen in FIG. 4B, the other address output terminals of each set of registers are commonly connected to the OR array to enable multiplication of these address signals. As already explained, this multiplication is achieved by controlling the state of the signal to which registers 207-40 and 207-42 are applied to the output control (OC) input terminals.
보다 상세히 말하자면, 출력제어(OC) 단자들은 회로(207-44) 내지 (207-50)에 의해 제어되는 소위 3상태 동작을 가능케한다. 신호(MRASCT 000)(MCASCT 000)의 각각이 2진수 1상태에 있을때, 이것은 어떤 어드레스 신호들이 그와 관련된 레지스터 Q출력 단자에 인가되는 것을 금지시킨다. 또한, 이미 언급한 바와 같이 이러한 동작은 레지스터 플립플롭의 래칭 동작과는 독립적이다.More specifically, the output control (OC) terminals enable so-called tri-state operation controlled by circuits 207-44 through 207-50. When each of the signals MRASCT 000 (MCASCT 000) is in binary 1 state, this prohibits certain address signals from being applied to the associated register Q output terminal. Also, as already mentioned, this operation is independent of the latch flip-flop latching operation.
아울러, 본 발명의 바람직한 실시예에 있어서, 어드레스 레지스터부(207-4)는 어드레스 레지스터(207-40)(207-42)와 병렬 접속된 통상의 3비트 2진 풀 가산기 회로(207-54)를 포함한다. 이 가산기 회로(207-54)는 하위의 어드레스 비트 19 내지 21을 1만큼 증분시키도록 접속된다. 보다 더 상세히 말하면, 입력단자 A1-A4는 어드레스부(207)의 큐 어드레스 레지스터들로 부터 버스 어드레스 신호(BSAD 21210)(BSAD 20210)(BSAD 19210)를 수신한다. 2진수 0의 신호는 입력단자 A8 및 B1-B8에 인가된다. 최하위 어드레스 신호(BSAD 22210)는 도시된 바와 같이 신호의 캐리로서 가산기 단자(CO)에 인가된다. 이미 언급하였듯이, 버스어드레스 신호들은 그 소오스로서 어드레스부(207)의 큐 어드레스 레지스터들을 가질 수 있다.In addition, in the preferred embodiment of the present invention, the address register section 207-4 is a conventional 3-bit binary full adder circuit 207-54 connected in parallel with the address registers 207-40 and 207-42. It includes. The adder circuits 207-54 are connected to increment the lower address bits 19 to 21 by one. More specifically, the input terminals A1-A4 receive the bus address signals BSAD 21210 (BSAD 20210) BSAD 19210 from the queue address registers of the
가산기 합성 단자(S1-S4)에 나타나는 증분된 출력신호(MADD 00111) 내지 (MADD 12111)는 멀티플렉서회로( 207-56)의 입력단자의 1세트에 인가된다. 입력단자 멀티플렉서(207-56)의 제2세트는 어드레스부(207)의 큐 어드레스 레지스터들로 부터 어드레스 신호(BSAD 11210)(BSAD 12210)(BSAD 13210)을 수신하도록 접속되어 있다. 이것은 레지스터 지연을 제거한다. 멀티플렉서 회로(207-56)는 인에이블(EN)단자를 접지에 접속시킴으로써 인에이블 된다. 게이트(GO/G1) 단자에 인가되는 타이밍부(204)의 신호(MCASAD 110)는 멀티플렉서(207-56)의 출력단자들에 인가되는 신호들의 소오스 선택을 제어한다. 즉, 신호(MCASAD 110)가 2진수 0일때, 어드레스 신호(BSAD 11210)(BSAD 12210)(BSAD 13210)는 신호(MADD 00211) 내지 (MADD 02211)의 소오스이다. 신호(MCASAD 110)가 2진수 1일때, 가산기 신호(MADD 00111) 내지 (MADD 02111)는 신호(MADD 00211) 내지 (MADD 02211)의 소오스이다.Incremental output signals MADD 00111 to MADD 12111 appearing in adder synthesis terminals S1-S4 are applied to one set of input terminals of the multiplexer circuits 207-56. The second set of input terminal multiplexers 207-56 is connected to receive an address signal BSAD 11210 (BSAD 12210) (BSAD 13210) from the queue address registers of the
제4c도의 홀스 스택 RAM은 어드레스 버퍼신호(210-46)를 통해 어드레스 신호(MADD 00101) 내지 (MADD 07010)를 수신하도록 접속되어 있다. 제4c도의 짝수 스택 RAM은 신호(MCASAD 110)가 2진수 0일때 어드레스 버퍼신호(210-26)를 통해 어드레스 신호(MADD 0010) 내지 (MADD 07010)은을 수신하도록 접속되어 있다. 신호(MCASAD 110)가 2진수 1일때, 증분된 출력신호(MADD 00111) 내지 (MADD 02111)가 신호(MADD 03010) 내지 (MADD 07010)과 함께 신호 (MADD 00010)대신에 짝수 스택 RAM칩에 인가된다.The horse stack RAM of FIG. 4C is connected to receive the address signals MADD 00101 to MADD 07010 via the address buffer signals 210-46. The even stack RAM of FIG. 4C is connected to receive the address signals MADD 0010 to MADD 07010 via the address buffer signals 210-26 when the
메모리 유니트(210-10)(210-40) (제4c)도Memory unit 210-10 (210-40) (Fig. 4c)
이미 언급하였듯이, 짝수 워어드 및 홀수 워어드 스택(210-20, 210-40)은 제4c도에 보다 더 상세히 도시되어 있다. 이들 스택은 도시된 바와 같이 4횡렬의 22, 64K 1비트 RAM칩을 포함한다. 이 64K칩 각각은 2개의 32,768비트 기억 어레이를 포함한다. 이 각각의 어레이는 128행×256열 매트릭스로 구성되어 있고, 일단의 256개의 감지 증폭기에 접속되어 있다. 다른 64K칩 구성도 사용될 수 있음을 알 수 있다. 이들 칩 및 관련 게이팅 회로들은 도터 보오드(doughter board)상에 설치되어 있다.As already mentioned, the even and odd word stacks 210-20 and 210-40 are shown in greater detail in FIG. 4C. These stacks include four rows of 22, 64K 1-bit RAM chips as shown. Each of these 64K chips contains two 32,768-bit memory arrays. Each array consists of a 128-row by 256-column matrix and is connected to a set of 256 sense amplifiers. It can be seen that other 64K chip configurations can also be used. These chips and associated gating circuits are mounted on a daughter board.
도터 보오드는 각기 리이드/라이트 제어부(208)로 부터 리이드/라이트 명령 신호중 대응하는 하나의 신호를 수신하도록 접속된 2개의 인버터(도시되지 않음)와 타이밍부(204)로 부터 행 및 열타이밍 신호를 수신하고 어드레스부(207)로 부터 열 디코딩 신호를 수신하도록 접속된 4개의 2입력 게이크(예를들어, 210-200 내지 210-206 및 210-400 내지 210-406)를 포함하고 있다. 여기서는 본 발명의 이해에 적합한 칩 단자만 도시하였다. 도시되지 않은 나머지 단자들은 통상의 방법에 따라 접속된다. 이에 대한 추가의 정보에 대해서는 1978년 3월 3일자로 출원된 미합중국 특허 제912,292를 참조하면 된다.The daughter boards respectively output row and column timing signals from the
동작설명Description of operation
이제, 제1도 내지 제6c도를 참조하여 본 발명의 양호한 실시예의 동작을 설명하는데, 특히 제5도의 타이밍 다이어그램을 참조하여 설명한다. 유니트(210-2)(210-4)의 각각은 제1도, 제4c도, 제6c도에 도시된 4개의 128K 모듈을 포함한다. 각각의 유니트(210-2)(210-4)는 또한 동일수의 스택 유니트를 포함할 수도 있다.The operation of the preferred embodiment of the present invention will now be described with reference to FIGS. 1-6C, in particular with reference to the timing diagram of FIG. Each of the units 210-2 and 210-4 includes four 128K modules shown in FIGS. 1, 4c, and 6c. Each unit 210-2, 210-4 may also include the same number of stack units.
제5도를 참조하여 동작의 이례를 설명하기에앞서, 우선 제6a도, 제6b도를 참조한다. 제6도는 메모리 리이드 또는 라이트 요구의 일부분으로써 메모리 서브시스템에 인가되는 메모리 어드레스들의 포오멧을 예시한 것이다. 상위/최상위 비트 위치들은 메모리 모듈/제어기를 식별하도록 코우드화되어 요구 신호들을 처리한다. 어드레스 비트4는 제어기 메모리의 256K의 반(즉, 상부 또는 하부의 반)이 액세스되고 있다는 것을 선택하는데 사용된다. 아울러, 어드레스 비트 4 및 어드레스 비트 5는 코우드화 되어 호출용으로 선택된 칩들의 행을 특정한다. 이들 어드레스 비트는 메모리 서브시스템(20-1)의 회로들에 의해 처리되고, RAM칩들에는 제공되지 않는다.Before describing an example of the operation with reference to FIG. 5, first, FIGS. 6A and 6B are referred to. 6 illustrates the format of memory addresses applied to the memory subsystem as part of a memory read or write request. The upper / highest bit positions are coded to identify the memory module / controller to process the request signals.
어드레스 비트 6-21은 어드레스 지정되고 있는 한쌍의 모듈의 RAM칩내의 22비트 위치쌍의 어드레스를 특정한다. 여기서 보다 더 상세히 설명되는 바와 같이, 이들 16개의 어드레스 비트는 8개의 어드레스 입력으로 승산되어 버퍼회로(210-26)(210-46)를 통해 제4c도의 RAM칩의 어드레스 입력단자(A0-A7)로 인가된다. 도시된 바와 같이 최하위 어드레스 비트 22는 어드 워어드 인지를 특정하고 비트 23은 지정된 워어드 내에서 바이트를 특정한다.Address bits 6-21 specify addresses of 22-bit position pairs in the RAM chip of the pair of modules being addressed. As will be explained in more detail here, these 16 address bits are multiplied by eight address inputs and address input terminals A0-A7 of the RAM chip of FIG. 4C through buffer circuits 210-26 and 210-46. Is applied. As shown, the least
제6d도는 제6c도의 모듈 각각의 기본적인 워어드 구성을 예시한 것이다. 16진수 형태의 순차적인 어드레스들은 도시된 바와 같이 상이한 워어드 기억위치에 할당된다. 즉, 제6c도에서 알 수 있듯이, 어드레스(0000)는 행 0, 열 0에서의 워어드 위치에 할당되어 있다. 다음의 순차적인 어드레스(0001)는 행 0, 열 1에서의 워어드 위치에 할당되어 있다. 따라서 어드레스 지정은 칩 어레이의 행을 따라서 진행되기 보다는 열에 따라서 순차적으로 진행된다. 여기서, 설명된 바와 같이 이것은 어드레스 증분을 어드레스 지정과 나란히 진행되게 한다.FIG. 6d illustrates the basic word construction of each of the modules of FIG. 6c. Sequential addresses in hexadecimal form are assigned to different word storage locations as shown. That is, as shown in FIG. 6C, the
제6c도는 제1도에 도시한 모듈 A 내지 D의 워어드 메모리 구성을 예시하고 있다. 도시하였듯이, 처음 256K워어드는 모듈 A,C에 의해 제공된다. 또, 다음 256K 워어드는 모듈 B,D에 의해 제공된다. 이들 쌍의 모듈들은 이미 언급된 것처럼 어드레스 비트 4의 상태 함수에 따라 선택된다. 제6b도, 제6c도는 본 발명의 장치가 부경계 조건들의 존재시 순차적인 워어드 어드레스 지정을 행하는 것을 설명하는데 참조될 것이다.FIG. 6C illustrates the memory configuration of the modules A to D shown in FIG. As shown, the first 256K wordwords are provided by modules A and C. Also, the next 256K word is provided by modules B and D. These pairs of modules are selected according to the state function of
제5도는 단일 메모리 사이클 동작동안 어드레스부(207) 및 타이밍부(204)의 회로에 의해 발생되는 상이한 타이밍 및 제어신호들간의 관계를 나타낸 것이다. 제5도에서 알수 있듯이, 도시된 여러 신호들은 메모리 사이클 동작을 개시하는 신호(MYACKR 010)에 대해 참조된다. 서브시스템(20)은 제6a도의 포오맷을 갖는 어드레스를 포함하는 메모리 명령을 수신한다. 이에 따라, 신호(MYACKR 010)는 2진수 1로 절환된다. 신호(MYACKR 010)에 따라, 타이밍부(204)의 회로는 메모리 비지 신호(MEMBUZ 010)를 2진수 1로 되게 하여 메모리 서브시스템이 메모리 사이클 동작을 시작하고 있음을(즉, 메모리가 비지상태임)을 가리킨다.5 shows the relationship between different timing and control signals generated by the circuits of the
메모리 비지 신호(MEMBUZ 010) 에 응답하여, 버스 어드레스 신호(BSAD) 내지 (BSAD 21210)는 행 어드레스 레지스터(207-40) 및 열 어드레스 레지스터(207-42)로 로우드된다. 즉, 신호(BSAD 07210) 내지 (BSAD 13210)와 그리고 신호(BSAD 18210)은 행 어드레스 레지스터(207-40)로 로우드된다. 신호(BSAD 14210) 내지 (BSAD 17210), 신호(BSAD 19210) 내지 (BSAD 21210)과 그리고 신호(BSAD 06210)는 열 어드레스 레지스터(207-42)로 로우드된다. 또한, 신호(MEMBUZ 101)가 제4b도의 신호(ADDSTR 00)를 2진수 0으로 절환시킨다. 이에 따라, 최하위 어드레스 비트(BSAD 22110) 및 칩 선택 어드레스 신호(BSAD 04110) 및 (BSAD 05110)이 레지스터(207-212)로 로우드된다.In response to the memory busy signal MEMBUZ 010, the bus address signals BSAD to BSAD 21210 are locked to the row address registers 207-40 and the column address registers 207-42. That is, signals BSAD 07210 to BSAD 13210 and signal BSAD 18210 are locked to row address registers 207-40. Signals BSAD 14210 through BSAD 21010, BSAD 19210 through BSAD 21210, and signal BSAD 06210 are routed to column address registers 207-42. In addition, the
제4도에서 알 수 있는 바와같이, 기억된 어드레스신호(LSAD 04210) 및 (LSAD 05210)는 디코더 회로(207-20)에 의해 해독된다. 예로써, 어드레스 비트 4-21이 모두 0이라 가정한다. 따라서, 디코더 회로(207-20)는 제로 디코딩 신호(DECOD 0000)를 2진수 0으로 되게 한다. 이 신호를 NAND게이트(207-24)를 조절하여 신호(DRAST 0010)를 2진수 1로 되게 한다.As can be seen in FIG. 4, the stored address signals LSAD 04210 and LSAD 05210 are decoded by the decoder circuit 207-20. As an example, assume that address bits 4-21 are all zeros. Thus, the decoder circuit 207-20 causes the zero
제4c도에서 알 수 있듯이, 신호(DRAST 0010)가 짝수 워어드 스택(210-20)의 NAND 게이트(210-206)의 한입력으로서 인가된다. 동일한 신호(DRAST 0010)는 또한 워어드 스택(210-40)의 NAND 게이트(210-406)의 한 입력으로서도 인가된다. 타이밍 신호(MRASTE 010)(MRAST 0010)가 발생될 때, NAND게이트(210-206) 및 (210-406)은 그들 출력을 2진수 0으로 되게 한다. 이어서, 행 어드레스 레지스터(207-40)로 부터 어드레스 버퍼회로들을 통해 스택(210-20)(210-40)에 내장된 RAM칩의 양 행단자(A0-A7)에 인가되는 행 어드레스 신호의 기억이 초래된다.As can be seen in FIG. 4C, the signal DRAST 0010 is applied as one input of the NAND gates 210-206 of the even word stack 210-20. The same signal DRAST 0010 is also applied as an input to the NAND gates 210-406 of the ward stack 210-40. When the timing signal MRASTE 010 (MRAST 0010) is generated, the NAND gates 210-206 and 210-406 cause their outputs to be binary zeros. Subsequently, the row address signals stored from the row address registers 207-40 through the address buffer circuits are applied to both row terminals A0-A7 of the RAM chip embedded in the stacks 210-20 and 210-40. This is brought about.
보다 상세히 언급하면, 신호(MYACKR 010)에 응답하는 제4a도의 타이밍 회로들은 타이밍신호(DLYINN 010) (TTAD 01010) 및 (TTAD 02010)이 발생되는 동안 사이클 동작을 시작한다. 이들 신호에 따라, 게이크(204-1)(204-3)(204-10)(204-17)(204-19) 및 (204-20)는 제5도에 도시한 시간에서 각기 신호(MRASTT 010)(MCASTT 010)(MRASTE 010)(MRAST 0010) 및 (MCASAD 010)를 발생한다. 언급된 바와같이, 행 타이밍 신호(MRASTE 010)(MRAST 0010)는 행 디코딩 신호(DRAST 0010)와 함께 RAM칩 의 행 양쪽의 RAM단자들에 인가되는 짝수 및 홀수 행 어드레스 스트로브 신호들을 발생한다. 이때, 열 어드레스 신호(MCASTT 010)(MCASAD 010)은 2진수 0이다.More specifically, the timing circuits of FIG. 4A in response to the signal MYACKR 010 start a cycle operation while the timing signals DLYINN 010 (TTAD 01010) and (TTAD 02010) are generated. According to these signals, the gages 204-1, 204-3, 204-10, 204-17, 204-19, and 204-20, respectively, represent the signals at the time shown in FIG. MRASTT 010) (MCASTT 010) (MRASTE 010) (MRAST 0010) and (MCASAD 010). As mentioned, the row timing signal MRASTE 010 (MRAST 0010), together with the row decoding signal DRAST 0010, generates even and odd row address strobe signals applied to the RAM terminals on both sides of the row of the RAM chip. At this time, the column address signal MCASTT 010 (MCASAD 010) is binary zero.
제4b도에서 알 수 있듯이, NAND 게이트(207-47)에서 나온 출력신호(MRASCT 000)는 이때(즉, 신호 MCASAD 010이 2진수 0일때) 2진수는 0이다. 이것은 행 어드레스 레지스터(207-40)가 그 입력에 있는 모든 제로 버스 어드레스 신호들을 그 출력단자로 인가할 수 있도록 조절된다. 거기서부터, 어드레스 신호(MADD 00010-MADD 07010)가 홀수 스택 어드레스 버퍼 회로(210-46)로 인가된다.As can be seen in FIG. 4B, the output signal MRASCT 000 from the NAND gates 207-47 is zero at this time (ie, when the signal MCASAD 010 is binary 0). This is adjusted so that the row address registers 207-40 can apply all zero bus address signals at their input to their output terminals. From there, the address signals MADD 00010-MADD 07010 are applied to the odd stack address buffer circuits 210-46.
제4b도에서 알 수 있는 바와같이, 상위의 3개의 행 어드레스 비트들은 또한 짝수 스택 어드레스 버퍼회로(210-26)에도 인가된다. 즉, 열 어드레스 신호(MCASAD 110)가 2진수 0이기 때문에, 이들 신호는 멀티플렉서 회로(207-56)를 통해 인가된다. 나머지 어드레스 신호(MADD 03010-MADD 07010)는 도시한 바와같이 짝수 스택어드레스 버퍼회로(210-26)로 직접 인가된다. 따라서, RAM칩의 양행은 단자(A0-A7)에 인가되는 8비트인 모든 제로 행 어드레스 신호를 래치 또는 기억시킨다.As can be seen in Figure 4b, the upper three row address bits are also applied to the even stack address buffer circuits 210-26. That is, since the column address signals
RAS시간 동안, 가산기 회로(207-54)는 최하위 어드레스 비트 22의 상태함수에 따라 하위의 3개의 어드레스 비트(즉, 최하위 칩 어드레스 비트 A0-A2)를 받자마자 적절한 증분 동작을 수행한다. 비트 22가 2진수 0이기 때문에, 하위의 3개의 어드레스 비트는 증분되지 않은 가산기 회로(207-54)를 통해 통과한다. 따라서, CAS시간전에, 가산기(207-54)에 의해 발생된 결과가 멀티플렉서 회로(207-56)의 입력에서 나타난다.During the RAS time, the adder circuits 207-54 perform the appropriate incremental operation upon receiving the lower three address bits (i.e., the least significant chip address bits A0-A2) according to the state function of the least
제4a도에서 알 수 있는 바와 같이, 신호(MACASAD 010)에 따라 게이트(204-20)는 제5도에서 도시된 시간에 신호(MCASAD 110)를 발생시킨다. 이신호(MCASAD 110)는 NAND 게이트(207-50) 및 멀티 플렉서 회로(207-56)로 인가된다. 2진수 1신호(MCASAD 110)는 멀티플렉서 회로(207-56)로 하여금 입력단자의 2세트에 인가된 어드레스 신호들을 선택하게 한다.As can be seen in FIG. 4A, the gate 204-20 generates the
상세히 말하자면, 신호(MCASD 010)가 2진수 1로 전환될때, 신호(MCASAD 110)는 2진수 1로 절환된다. 이에 따라, 버스 어드레스 신호(BSAD 0602) 및 (BSAD 14210) 내지 (BSAD 21210)이 레지스터(207-42)의 출력단자에 인가된다. 동시에, 레지스터(207-40)는 그 출력 단자에 버스 어드레스 신호들을 인가하는 것을 금지되게 한다. 이에따라, 열 어드레스 신호(MADD 00010) 내지 (MADD 07010)이 홀수 버퍼회로(210-46)에 인가된다. 증분된 하위의 어드레스 비트는 멀티플렉서 회로(207-56)를 통해 짝수 버퍼회로(210-26)로 인가된다. 나머지 열 어드레스 신호(MADD 0310-MADD 07101)는 짝수 버퍼회로(210-26)로 직접 인가된다.Specifically, when the signal MCASD 010 is converted to binary one, the
제4a도에서 알 수있는 바와 같이, 타이밍 신호(MCASTT 010)에 따라 게이트(204-18)가 제5도에서 도시된 시간에서 신호(MCASTS 010)를 발생되게 한다. 이 신호(MCASTS 010)는 NAND 게이트(210-200)(210-204)(210-400) 및 (210-406)을 통해 인가된다. 이에 따라, 열 어드레스 스트로브 신호가 RAM칩의 열들의 CAS단자에 인가된다. 따라서, RAM 칩은 모두 단자(A0-A7)에 인가되는 모두 0인 8비트 열 신호를 기억한다.As can be seen in FIG. 4A, the gates 204-18 produce the signal MCASTS 010 at the time shown in FIG. 5 in accordance with the timing signal MCASTT 010. FIG. This signal MCASTS 010 is applied via NAND gates 210-200, 210-204, 210-400 and 210-406. Accordingly, the column address strobe signal is applied to the CAS terminal of the columns of the RAM chip. Thus, the RAM chip stores all zero zero 8-bit string signals that are applied to terminals A0-A7.
이 상태에서, 메모리 어드레스 신호가 모두 0임에 따라 워어드 0 및 워어드 1을 기억하는 0행 및 열 값에 의해 정의되는 제6c도의 메모리 모듈 A, C도의 기억 위치에 내용이 액세스 될 것이다. 이것은 워어드 0 및 워어드 1이 제5도의 신호 (MDECT 000) 및 (MDOCT 000)의 신호에 응답하여 짝수 데이타 및 홀수 데이타 레지스터(206-8) 및 (206-10)에 각기 로우드될 것이다. 이 짝수 및 홀수 데이타 레지스터(206-8) 및 (206-10)은 2진수 0인 신호(MDOTSC 100)에 의해 인에이블되어 그 출력단자에 입력 데이타 신호를 인가한다.In this state, as the memory address signals are all zeros, the contents will be accessed to the storage positions of the memory modules A and C of FIG. 6C defined by the
그후 워어드 0 및 워어드 1이 최하위 어드레스 비트 LSAD22의 상태기능에 따라 데이타 아웃 멀리플렉서회로(206-16)(206-18)를 통해 제3도의 라인(MUXD00-15)(MUXD 16-31)에 인가된다. 즉, 신호(LSAD 22210)가 2진수 0일때, 짝수 데이타 레지스터(206-8)의 내용은 멀티플렉서 회로(206-16)에 의해 라인(MUXD00-15)으로 인가된다. 또, 멀티 플렉서 회로(206-18)는 홀수 데이타 레지스터 내용을 라인(MUXD16-31)으로 인가한다. 이것의 역은 어드레스 비트(LSAD22210)가 2진수 1일때 일어난다. 이러한 방식으로서, 메모리 모듈유니트 양쪽에 대한 호출이 워어드 영역에 관계없이 일어난다. 제5도에서 알 수 있듯이, 메모리 사이틀 동작은 타이밍부(204)의 회로가 메모리 비지 신호(MEMBUZ 010)를 2진수 0으로 절환할 때 왼료된다.Then
최하의 어드레스 비트 22의 값이 0인 경우에 대해서도, RAM칩 어드레스 비트 6-21도 동일하다. 그러나, 최하위 어드레스의 값이 "1"일때, 이것은 부경게 어드레스 상태를 발생시킨다. 즉, 메모리 요구 어드레스가 위치 1이 액세스됨을 특정할 때, 다시 모든 0어드레스가 행 및 열 어드레스 레지스터(207-40)(207-42)에 기억될 것이다. 가산기(207-54)가 없으면, 워어드 1 및 0이 액세스 된다. 그러나, 모듈 C, A로 부터 워어드 1, 2가 액세스되어 다수 버스(10)로 판독되어 지는 것이 바람직하다. 소망의 워어드 쌍의 액세스를 완료하기 위하여, 가산기 회로(207-54)가 짝수 메모리 유니트(210-20)의 RAM칩에 인가되는 열 어드레스를 1만큼 증분시키도록 조절된다.The RAM chip address bits 6-21 are also the same when the value of the
상세히 말하자면, 신호(RSAD 04110) 및 (BSAD 05110)이 2진수 0일때, 디코더 회로(207-20)는 "0"디코드 출력신호(DECOD 0000)를 2진수 0으로 되게 한다. 그후, 이에 따라 NAND게이트(207-24)가 신호(DRAST 0010)를 2진수 1도 되게 한다.Specifically, when the signals RSAD 04110 and BSAD 05110 are binary 0, the decoder circuit 207-20 causes the " 0 " decode
따라서, 신호(DRAST 0010)는 타이밍 신호(MRAST 0010) 및 (MRASTE 010)에 따라 단자(AO-A7)에 인가된 행 어드레스 신호들을 제4c도에 도시된 메모리 유니트(210-20)(210-40)이 열 0의 RAM칩으로 로우드되게 한다. 그러나, RAS시간동안, 단자(OA-A7)로 인가되는 열 어드레스는 신호들은 최하위 어드레스 비트 22의 값이 "1"때 가산기 회로(207-54)에 의해 1만큼 증분됨을 유의해야 한다. 증분된 열 어드레스는 멀레플렉서(207-56)를 통해 RAM칩의 짝수 행에 인가된다. 홀수 메모리 유니트(210-40)의 열 모두의 RAM칩은 증분되지 않은 열 어드레스 신호들을 수신한다.Accordingly, the signal DRAST 0010 is used to convert the row address signals applied to the terminals AO-A7 according to the timing signals MRAST 0010 and MRASTE 010 to the memory units 210-20 and 210- shown in FIG. 4C. 40) are loaded into the
따라서, 제6c도에 도시한 모듈 C,A의 워어드 1 및 2가 최하위 어드레스 비트 22의 상태 함수에 따라 액서스되어 멀티플렉서 회로(206-16) 및 (206-18)를 통해 버스(10)에 판독되어진다. 제6b도에서 알 수 있듯이, 행0, 열0에 위치된 제1워어드는 모듈 C로부터 액세스되는 반면, 행0, 열1에 위치된 제2워어드는 모듈 A로 부터 액세스된다. 제6b도로 부터 알 수 있는 바와 같이, 버스(10)로 부터 수신된 홀수 메모리 요구 어드레스를 증분시킴으로써 모듈 A내에서 다른 열 어드레스를 갖는 소망의 워어드가 액세스된다. 어드레스 지정은 메모리 요구 어드레스가 워어드 15를 특정할 때까지 이와 같이 진행한다. 이러한 점에서, 가산기 회로(207-54)의 영역은 초과된다. 정확한 열 어드레스들을 제공하는 것은 가능하지 않기 때문에, 블록(207-15)으로 도시한 경계 회로들은 경계 어드레스 상태를 검출하도록 동작하고 신호(MYBNDY 010)를 2진수 0으로 절환한다. 즉, 버스 어드레스 비트 22-19의 값이 모두 1임을 따라 NAND 게이트(207-16)는 2진수 0으로 절환한ㄷ다. 이에 따라, 플립플롭(207-18)은 2진수 0의 상태로 절활한다.Thus,
제4a도로부터 알수 있듯이, 신호(MYBNDY 010)는 신호(RASINH 000)를 2진수 1로 되게 한다. 이에따라, NAND 게이트(204-8)(204-14)는 최하위 어드레스 비트22의 상태 함수에 의거, 열 어드레스 스트로브 금지 신호(ERASIH 000)(ORASIH 000)를 발생시킨다. 비트 22가 2진수 1이기 때문에, 신호(LSAD 222000)는 2진수 0이 되어 NAND 게이트(204-10)는 신호(ORASIH 00)를 2진수 1로 전환시킨다. 동시에, NAND 게이트(204-8)는 신호(ERASIH 000)를 2진수 0으로 절환시킨다. 이에 따라, 타이밍부(204)는 홀수 메모리 모듈(210-40)을 액세싱하는데 필요한 타이밍 신호만을 발생한다. 즉, AND 게이트(204-17)는 행 어드레스가 메모리 모듈 C의 RAM 칩의 행으로 래치되게 하는 타이밍 신호(MRAST 0010)를 발생한다. 이것을 열어드레스의 래칭에 의해 수반된다. 그후, 행 및 열 어드레스에 의해 정의되는 기억 위치 15의 내용이 AND 게이트(204-15)에 의해 발생된 타이밍 신호(MDOCT 000)에 응답하여 액세스되어 홀수 데이타 레지스터(206-10)에 기억된다. 이때, 모듈 C의 워어드 15가 라인(MUXD 00-15)에 인가되어, 아무런 새로운 데이타 라인(MUXD 16-31)에 인가되지 않는다. 신호(MYBNDY 010)의 상태도 중앙처리장치(40)에 경제조건의 발생을 신호하는데 사용될수 있음을 알수 있을 것이다.As can be seen from FIG. 4A, the signal MYBNDY 010 causes the signal RASINH 000 to be binary one. Accordingly, the NAND gates 204-8 and 204-14 generate a column address strobe prohibition signal ERASIH 000 (ORASIH 000) based on the state function of the least
어드레스 시퀀싱 및 어드레스 디코딩은 256K에 대응하는 위치가 도달될때까지 상술한 방식대로 진행한다. 그점으로부터 계속하여, 버스 어드레스 비트 4는 2진수 1로 절환된다. 제6c도 에서 알수 있는 바와 같이, 이에 따라 디코더(207-20)는 다음의 256K 위치를 액세스하기 위한 신호(DRAST 2010) 및 (DRAST 3010)를 발생한다. 매 16워어드 마다 어드레스 경계조건의 검출 및 각각의 부경계 어드레스 조건의 연장은 이미 언급한 대로 진행한다. 유일한 차이점은 모듈 B, D의 RAM칩의 행이 신호(DRAST 0010)(DRAST 1010) 대신에 신호(DRAST 2010) (DRAST 3010)를 사용하여 모듈 A, C대신 인에블된다는 점이다.Address sequencing and address decoding proceed in the manner described above until a location corresponding to 256K is reached. From that point onwards,
전술한 바에 의해 본 발명의 어드레스 지정 장치가 단일 버스 사이클 동작동안 다수의 순차적인 워어드 위치에 대한 동시 액세스를 어떻게 제공할수 있는지를 알수 있다. 메모리 요구 어드레스의 행 어드레스 부분이 전송되어 다수의 메모리 모듈내의 동일 행 칩내에 기억되는 간격동안, 각 요구의 최하위 어드레스 비트의 함수에 따라 어드레스지정장치가 각각의 홀수열 어드레스를 증분되게 함으로써 액세스가 달성될수 있다. 이에 따라, 데이타 워어드가 최소 시간내에 요구 장치로 전달된다. 본 발명의 어드레스 지정장치는 최소한의 기억 레지스터를 포함하여, 메모리 시스템의 성능에 어떤 악영향을 줌이 없이 동작한다. 본 발명의 구성은 또한 2중 워어드 액세스가 리이드/라이트 동작의 경우에 짝수 또는 홀수 워어드 어드레스에 따라 최소의 회로를 사용하여 개시할 수 있게 한다.It is understood from the foregoing that the addressing device of the present invention can provide simultaneous access to multiple sequential word positions during a single bus cycle operation. Access is achieved by causing the addressing device to increment each odd-numbered address as a function of the least significant address bit of each request during the interval in which the row address portion of the memory request address is transferred and stored in the same row chip in multiple memory modules. Can be. Accordingly, the data word is delivered to the requesting device in a minimum time. The addressing device of the present invention includes a minimum memory register and operates without any adverse effect on the performance of the memory system. The configuration of the present invention also allows dual word access to be initiated using minimal circuitry in accordance with even or odd word addresses in the case of lead / write operations.
이 기술분야에 숙련된 자는 상술한 실시예에 여러가지 변경이 이루어질수 있음을 알수 있을 것이다. 예를들어, 본 발명의 구성은 Robert B.Johnson씨 등에 의해 발명된 "순차적인 워어드 정열 어드레스 장치"란 제하의 특허 출원의 어드레스 지정 장치와 함께 활용될수 있다. 이경우, 어드레스 증분지연이 감소된다. 따라서, 어드레스 경계조건은 가산기 회로(207-54)의 크기를 변경시키고 블록(207-15)의 경계 회로들을 수정함으로써 조정될 수 있다.Those skilled in the art will appreciate that various changes can be made to the above-described embodiments. For example, the configuration of the present invention can be utilized in conjunction with the addressing device of the patent application under the term "sequential word of order addressing device" invented by Robert B. Johnson et al. In this case, the address incremental delay is reduced. Thus, the address boundary condition can be adjusted by changing the size of the adder circuits 207-54 and modifying the boundary circuits of blocks 207-15.
따라서, 본 발명은 대응하는 갯수의 메모리 모듈 유니트 내에서 어떤 갯수의 기억위치를 액세스 하는데 사용될수 있다.Thus, the present invention can be used to access any number of storage locations within the corresponding number of memory module units.
지금까지는 본 발명의 양호한 실시예에 대해서만 예시 및 설명하였지만, 첨부된 특허청구 범위에서 알수 있는 바와 같은 본 발명의 사상으로부터 벗어남이 없이 여러가지 변경이 이루어질수 있다.So far, only the preferred embodiment of the present invention has been illustrated and described, but various changes can be made without departing from the spirit of the invention as can be seen in the appended claims.
Claims (43)
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US81-306839 | 1981-09-29 | ||
| US306,839 | 1981-09-29 | ||
| US06/306,839 US4432055A (en) | 1981-09-29 | 1981-09-29 | Sequential word aligned addressing apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR840001731A KR840001731A (en) | 1984-05-16 |
| KR880001171B1 true KR880001171B1 (en) | 1988-07-02 |
Family
ID=23187100
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR8204397A Expired KR880001171B1 (en) | 1981-09-29 | 1982-09-29 | Addressing device with sequential word order |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4432055A (en) |
| EP (1) | EP0076155B1 (en) |
| JP (1) | JPS5868168A (en) |
| KR (1) | KR880001171B1 (en) |
| AU (1) | AU564230B2 (en) |
| CA (1) | CA1183963A (en) |
| DE (1) | DE3280043D1 (en) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5146572A (en) * | 1980-11-17 | 1992-09-08 | International Business Machines Corporation | Multiple data format interface |
| US4604695A (en) * | 1983-09-30 | 1986-08-05 | Honeywell Information Systems Inc. | Nibble and word addressable memory arrangement |
| GB2164767B (en) * | 1984-09-25 | 1988-08-24 | Sony Corp | Video data storage |
| US5168558A (en) * | 1986-01-29 | 1992-12-01 | Digital Equipment Corporation | Apparatus and method for providing distributed control in a main memory unit of a data processing system |
| US4954946A (en) * | 1986-01-29 | 1990-09-04 | Digital Equipment Corporation | Apparatus and method for providing distribution control in a main memory unit of a data processing system |
| JPH01175649A (en) * | 1987-12-29 | 1989-07-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | Micro processor |
| US5051894A (en) * | 1989-01-05 | 1991-09-24 | Bull Hn Information Systems Inc. | Apparatus and method for address translation of non-aligned double word virtual addresses |
| US5117428A (en) * | 1989-11-22 | 1992-05-26 | Unisys Corporation | System for memory data integrity |
| US5241663A (en) * | 1990-05-31 | 1993-08-31 | Sony Corporation | Hierarchically pairing memory blocks based upon relative storage capacities and simultaneously accessing each memory block within the paired memory blocks |
| GB9018990D0 (en) * | 1990-08-31 | 1990-10-17 | Ncr Co | Register control for workstation interfacing means |
| US5325500A (en) * | 1990-12-14 | 1994-06-28 | Xerox Corporation | Parallel processing units on a substrate, each including a column of memory |
| US5295255A (en) * | 1991-02-22 | 1994-03-15 | Electronic Professional Services, Inc. | Method and apparatus for programming a solid state processor with overleaved array memory modules |
| JP2960560B2 (en) * | 1991-02-28 | 1999-10-06 | 株式会社日立製作所 | Microelectronic equipment |
| US5537564A (en) * | 1993-03-08 | 1996-07-16 | Zilog, Inc. | Technique for accessing and refreshing memory locations within electronic storage devices which need to be refreshed with minimum power consumption |
| US5689680A (en) * | 1993-07-15 | 1997-11-18 | Unisys Corp. | Cache memory system and method for accessing a coincident cache with a bit-sliced architecture |
| US5566312A (en) * | 1994-05-23 | 1996-10-15 | Advanced Micro Devices | Processimg unit with programmable mis-aligned byte addressing |
| EP1050818A1 (en) * | 1999-05-03 | 2000-11-08 | STMicroelectronics SA | Computer memory access |
| US6944087B2 (en) * | 2001-02-24 | 2005-09-13 | Intel Corporation | Method and apparatus for off boundary memory access |
| WO2001084305A1 (en) * | 2000-05-04 | 2001-11-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Processor architecture having an alu, a java stack and multiple satckpointers |
| CN104731525B (en) * | 2015-02-06 | 2017-11-28 | 北京航天自动控制研究所 | A kind of different bit wides of compatibility support the FPGA piece memory storage controllers that non-alignment accesses |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1774259A1 (en) * | 1968-05-13 | 1971-10-07 | Elektronische Rechenmasch Ind | Method for addressing a memory |
| US3602896A (en) * | 1969-06-30 | 1971-08-31 | Ibm | Random access memory with flexible data boundaries |
| JPS4996638A (en) * | 1973-01-13 | 1974-09-12 | ||
| US3997896A (en) * | 1975-06-30 | 1976-12-14 | Honeywell Information Systems, Inc. | Data processing system providing split bus cycle operation |
| US4000485A (en) * | 1975-06-30 | 1976-12-28 | Honeywell Information Systems, Inc. | Data processing system providing locked operation of shared resources |
| US4236203A (en) * | 1978-01-05 | 1980-11-25 | Honeywell Information Systems Inc. | System providing multiple fetch bus cycle operation |
| US4181974A (en) * | 1978-01-05 | 1980-01-01 | Honeywell Information Systems, Inc. | System providing multiple outstanding information requests |
| US4185323A (en) * | 1978-07-20 | 1980-01-22 | Honeywell Information Systems Inc. | Dynamic memory system which includes apparatus for performing refresh operations in parallel with normal memory operations |
| JPS5916354B2 (en) * | 1978-10-17 | 1984-04-14 | 日本電信電話株式会社 | Storage device |
| US4247920A (en) * | 1979-04-24 | 1981-01-27 | Tektronix, Inc. | Memory access system |
| DE2948159C2 (en) * | 1979-11-29 | 1983-10-27 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Integrated memory module with selectable operating functions |
| EP0032136B1 (en) * | 1980-01-08 | 1990-10-10 | Honeywell Bull Inc. | Memory system |
| US4376972A (en) * | 1980-01-08 | 1983-03-15 | Honeywell Information Systems Inc. | Sequential word aligned address apparatus |
| US4323965A (en) * | 1980-01-08 | 1982-04-06 | Honeywell Information Systems Inc. | Sequential chip select decode apparatus and method |
-
1981
- 1981-09-29 US US06/306,839 patent/US4432055A/en not_active Expired - Fee Related
-
1982
- 1982-09-08 AU AU88110/82A patent/AU564230B2/en not_active Ceased
- 1982-09-08 CA CA000411007A patent/CA1183963A/en not_active Expired
- 1982-09-29 JP JP57168679A patent/JPS5868168A/en active Granted
- 1982-09-29 EP EP82305139A patent/EP0076155B1/en not_active Expired
- 1982-09-29 KR KR8204397A patent/KR880001171B1/en not_active Expired
- 1982-09-29 DE DE8282305139T patent/DE3280043D1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5868168A (en) | 1983-04-22 |
| CA1183963A (en) | 1985-03-12 |
| US4432055A (en) | 1984-02-14 |
| JPH0248934B2 (en) | 1990-10-26 |
| EP0076155A3 (en) | 1986-03-05 |
| EP0076155B1 (en) | 1989-11-29 |
| AU8811082A (en) | 1983-04-14 |
| AU564230B2 (en) | 1987-08-06 |
| DE3280043D1 (en) | 1990-01-04 |
| KR840001731A (en) | 1984-05-16 |
| EP0076155A2 (en) | 1983-04-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR880001171B1 (en) | Addressing device with sequential word order | |
| US4366538A (en) | Memory controller with queue control apparatus | |
| US4323965A (en) | Sequential chip select decode apparatus and method | |
| EP0263924B1 (en) | On-chip bit reordering structure | |
| US4866603A (en) | Memory control system using a single access request for doubleword data transfers from both odd and even memory banks | |
| US4370712A (en) | Memory controller with address independent burst mode capability | |
| US5060145A (en) | Memory access system for pipelined data paths to and from storage | |
| US5261068A (en) | Dual path memory retrieval system for an interleaved dynamic RAM memory unit | |
| US4558429A (en) | Pause apparatus for a memory controller with interleaved queuing apparatus | |
| US4369510A (en) | Soft error rewrite control system | |
| EP0812438B1 (en) | A method and apparatus for controlling linear and toggle mode burst access sequences using toggle mode increment logic | |
| KR930004426B1 (en) | Dual-port memory and its fabrication method | |
| US4361869A (en) | Multimode memory system using a multiword common bus for double word and single word transfer | |
| KR860000986B1 (en) | Memory controller | |
| CN100419901C (en) | Memory device with different burst sequential addressing for read and write operations | |
| EP0473302A2 (en) | Memory device with improved means for controlling data transfer | |
| US5307469A (en) | Multiple mode memory module | |
| US4796222A (en) | Memory structure for nonsequential storage of block bytes in multi-bit chips | |
| EP0229932A2 (en) | High-capacity memory for multiprocessor systems | |
| US4376972A (en) | Sequential word aligned address apparatus | |
| US4319324A (en) | Double word fetch system | |
| US5202970A (en) | Method for sharing memory in a multiprocessor system | |
| US4992979A (en) | Memory structure for nonsequential storage of block bytes in multi bit chips | |
| EP0032136B1 (en) | Memory system | |
| US5201058A (en) | Control system for transferring vector data without waiting for transfer end of the previous vector data |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PG1605 | Publication of application before grant of patent |
St.27 status event code: A-2-2-Q10-Q13-nap-PG1605 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 19940703 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 19940703 |